深圳市振华微电子有限公司检测中心

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法

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微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法

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混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997

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电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

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微电子器件试验方法和程序 GJB 360B-2009 方法

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军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压（高度）试验 GJB 150.2A-

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军用设备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-

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军用设备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-

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军用设备环境试验方法 温度-高度试验 GJB 150.6-

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电工电子产品环境试验 第1部分：试验方法 试验A：低温

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h循环）

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ga和导则：稳态加速度

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-

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