数据更新时间
2026-05-12
按“复位”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：复位电压、复位电流
检测对象：半导体集成电路时基电路
JB/T 12785-2016
霍尔接近开关传感器
检测项目：复位点磁感应强度B<Sub>RP</Sub>
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016
霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016
检测项目：复位点磁感应强度
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路