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2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 21 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>、输出由高阻态到高电平传输延迟时间t<Sub>PZH</Sub>、输出由高阻态到低电平传输延迟时间t<Sub>PZL</Sub>、输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</Sub>、输出由低电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PLZ</Sub>
检测对象：半导体集成电路TTL电路
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第3节
检测项目：延迟时间t<Sub>d</Sub>、延迟时间
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体器件集成电路存储器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：脉冲上升时间、下降时 间、延迟时间、脉冲上升时 间、下降时 间、延迟时间（开关时间）
检测对象：半导体光电耦合器
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法
检测项目：脉冲上升时间、下降时 间、延迟时间、脉冲上升时 间、下降时 间、延迟时间（开关时间）
检测对象：半导体光电耦合器
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目：开启延迟时间、关断延迟时间
检测对象：场效应晶体管
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
检测项目：启动延迟T<Sub>tr</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章 第1节
检测项目：延迟时间
检测对象：双极型晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法
检测项目：开启延迟时间
检测对象：场效应晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：关断延迟时间
检测对象：场效应晶体管
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：启动延迟
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块