数据更新时间
2026-05-12
按“开启”筛选，展示 7 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：开启时间t<Sub>on</Sub>、开启时间
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目：开启时间、开启延迟时间
检测对象：场效应晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：开启时间
检测对象：场效应晶体管
半导体器件 第8部分 场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：开启时间
检测对象：场效应晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法
检测项目：开启延迟时间
检测对象：场效应晶体管