数据更新时间
2026-05-12
按“滞后”筛选，展示 4 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：滞后电压 △V<Sub>T</Sub>
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：滞后电压
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目：（输入）阈值电压和滞后电压
检测对象：现场可编程门阵列