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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 385 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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电流电压传感器总规范 SJ20790-2000
电流电压传感器总规范 SJ20790-2000
检测项目：耐压、线性度、零点输出、额定输出、满量程输出、精度、零点漂移、热零点漂移 等 9 项，点击展开全部
检测对象：电流电压传感器
电流电压传感器总规范 SJ 20790-2000
电流电压传感器总规范 SJ 20790-2000
检测项目：线性度、精度、零点漂移、热零点漂移、绝缘电阻、零点输出
检测对象：电流电压传感器
电流电压传感器通用规范 GJB 8354-2015
电流电压传感器通用规范 GJB 8354-2015
检测项目：精度、零点漂移、热零点漂移、绝缘电阻、耐压、零点输出
检测对象：电流电压传感器
旋转开关（电路选择器，小电流容量）通用规范 GJB 734A-2002
旋转开关（电路选择器，小电流容量）通用规范 GJB 734A-2002
检测项目：接触电阻、耐电压、绝缘电阻
检测对象：开关
旋转开关（电路选择器，小电流容量）通用规范 GJB734A-2002
旋转开关（电路选择器，小电流容量）通用规范 GJB734A-2002
检测项目：振动
检测对象：电子元器件
半导体集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇第3节
检测项目：电源电流I<Sub>DD</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 26 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体器件集成电路存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
检测对象：DSP
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：DSP数字信号处理器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：正向电流I<Sub>F</Sub>、反向电流I<Sub>R</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、电流传输比C<Sub>TR</Sub>、高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>、输入触发电流I<Sub>FT</Sub>、低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>、正向电流 等 13 项，点击展开全部
检测对象：半导体光电耦合器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输入高电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流、电源电流、输出短路电流 等 12 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、电源电流I<Sub>DD</Sub>、输入高电平电流、输入低电平电流 等 12 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流、电源电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路
检测项目：输入偏置电流、输入失调电流、电流调整率、备用电流（耗散电流和耗散电流变化）、输出短路电流、输出极限电流、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub> 等 11 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路运算放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、高电平输出电流、低电平输出电流、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub> 等 10 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、静态接口电源电流I<Sub>ICC0Q</Sub>、静态内核电源电流I<Sub>ICCINTQ</Sub>、输入高电平电流、输入低电平电流、静态条件下的电源电流（静态接口电源电流） 等 10 项，点击展开全部
检测对象：DSP
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：DSP数字信号处理器
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、动态条件下的总电源电流、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输入高电平电流 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体器件集成电路存储器
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、电源电流、高电平输出电流、低电平输出电流、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目：输入偏置电流、输入失调电流、静态电源电流、输出短路电流、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、最大输出电流I<Sub>Omax</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：静态工作电源电流、截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>、截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：集电极-基极截止电流I<Sub>CBO</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、发射极-基极截止电流I<Sub>EBO</Sub>、正向电流传输比h<Sub>FE</Sub>、反向电流I<Sub>R</Sub>、集电极-基极截止电流
检测对象：双极型晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：发光二极管
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、电流传输比C<Sub>TR</Sub>、反向电流、集电极-发射极截止电流、电流传输比
检测对象：半导体光电耦合器
DSP测试方法 GJB 7705-2012 方法
DSP测试方法 GJB 7705-2012 方法
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流、输入低电平电流
检测对象：DSP
检测对象：DSP数字信号处理器
半导体器件 第6部分：晶闸管
检测项目：掣住电流I<Sub>L</Sub>、断态电流I<Sub>D</Sub>、门极触发电流I<Sub>GT</Sub>、掣住电流、断态电流、门极触发电流
检测对象：晶闸管
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电流调整率、备用电流（耗散电流和耗散电流变化）、输出短路电流、电流调整率S<Sub>I</Sub>、耗散电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>、短路电流I<Sub>OS</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：DSP
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
检测项目：输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输入负载电流I<Sub>LI</Sub>、工作状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>、维持状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DDS</Sub>
检测对象：半导体器件集成电路存储器
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目：数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、数字输入高电平电压/低电平电压、数字输入高电平电流/低电平电流、电源电流、数字端输入漏电流
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
半导体器件 第8部分 场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：栅极截止电流或栅极漏泄电流I<Sub>GS</Sub>、漏极截止电流、漏极电流I<Sub>D</Sub>、栅极截止电流或栅极漏泄电流、漏极电流
检测对象：场效应晶体管
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017
检测项目：输入接通电流、偏置电流、控制电流、输出漏电流、输入关断电流
检测对象：固体继电器
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
检测项目：输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输入负载电流、工作状态时电源电流、维持状态时电源电流
检测对象：半导体器件集成电路存储器
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目：发射极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、正向电流传输比、反向电流、浪涌电流
检测对象：双极型晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：开关二极管
检测对象：发光二极管
检测对象：调整二极管(包含TVS)
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目：输入偏置电流、输入失调电流、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、最大输出电流I<Sub>Omax</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章 第3节
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>、调整电流I<Sub>S</Sub>、反向电流、调整电流
检测对象：整流二极管
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：发光二极管
检测对象：调整二极管(包含TVS)
半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT）
检测项目：集电极截止电流I<Sub>CES</Sub>、栅极漏电流I<Sub>GES</Sub>、集电极截止电流、栅极漏电流
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目：电源电流、模拟输入电流、满度输出电流、模拟输出漏电流
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：复位电流、触发电流、阈值电流、静态电源电流
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章第1节
检测项目：集电极-基极截止电流、发射极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、正向电流传输比
检测对象：双极型晶体管
固体继电器总规范 GJB1515B-2017
固体继电器总规范 GJB1515B-2017
检测项目：输入接通 电流、偏置电流、控制电流、输出漏电流
检测对象：固体继电器
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：模拟输入电流I<Sub>I</Sub>、满度输出电流I<Sub>O</Sub>、模拟输出漏电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
检测项目：输出电流I<Sub>o</Sub>、电流调整率S<Sub>i</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管
检测项目：集电极-基极截止电流I<Sub>CBO</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、发射极-基极截止电流I<Sub>EBO</Sub>
检测对象：双极型晶体管
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项目：数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目：静态电源电流、静态电源电流I<Sub>S</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>、反向电流
检测对象：整流二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：发光二极管
检测对象：调整二极管(包含TVS)
整流二极管测试方法
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>、反向电流
检测对象：整流二极管
检测对象：发光二极管
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
检测项目：漏电流、直流漏电流
检测对象：钽电容器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电流、输入电流
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>
检测对象：整流二极管
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：发光二极管
有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范 GJB 63B-2001
有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范 GJB 63B-2001
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容器
有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器总规范 GJB 2283-1995 方法
有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器总规范 GJB 2283-1995 方法
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容器
有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011 方法
有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011 方法
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容器
非固体电解质钽电容总规范 GJB 1312A-2001 方法
非固体电解质钽电容总规范 GJB 1312A-2001 方法
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容器
有失效率等级的铝电解电容器通用规范 GJB 603A-2011 方法
有失效率等级的铝电解电容器通用规范 GJB 603A-2011 方法
检测项目：直流漏电流
检测对象：铝电解电容器
有可靠性指标的铝电解电容器总规范 GJB 603-1988 方法
有可靠性指标的铝电解电容器总规范 GJB 603-1988 方法
检测项目：直流漏电流
检测对象：铝电解电容器
晶体振荡器通用规范 GJB1648A-2011
晶体振荡器通用规范 GJB1648A-2011
检测项目：输入电流功率
检测对象：晶体振荡器
混合和固体延时继电器通用规范 GJB 1513A-2009
混合和固体延时继电器通用规范 GJB 1513A-2009
检测项目：输出漏电流
检测对象：延时继电器
半导体光电子器件筛选与验收通用要求 GJB 5018-2001 方法
半导体光电子器件筛选与验收通用要求 GJB 5018-2001 方法
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>
检测对象：发光二极管
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10741-2000
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10741-2000
检测项目：输入低电平电流
检测对象：CMOS数字集成电路
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
检测项目：输入电流功率
检测对象：晶体振荡器
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：反向电流
检测对象：整流二极管
检测对象：开关二极管
检测对象：发光二极管
检测对象：调整二极管(包含TVS)
混合和固体延时继电器通用规范 GJB1513A-2009
混合和固体延时继电器通用规范 GJB1513A-2009
检测项目：输出漏电流
检测对象：延时继电器
有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范 GJB63B-2001
有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范 GJB63B-2001
检测项目：直流漏电流
检测对象：钽电容器
有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器总规范 GJB2283A-2014
有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器总规范 GJB2283A-2014
检测项目：直流漏电流
检测对象：钽电容器
有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB733B-2011
有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB733B-2011
检测项目：直流漏电流
检测对象：钽电容器
非固体电解质钽电容总规范 GJB1312A-2001
非固体电解质钽电容总规范 GJB1312A-2001
检测项目：直流漏电流
检测对象：钽电容器
有失效率等级的铝电解电容器通用规范 GJB603A-2011
有失效率等级的铝电解电容器通用规范 GJB603A-2011
检测项目：直流漏电流
检测对象：铝电解电容器
有可靠性指标的铝电解电容器总规范 GJB603-1988
有可靠性指标的铝电解电容器总规范 GJB603-1988
检测项目：直流漏电流
检测对象：铝电解电容器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996
检测项目：输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
检测项目：静态电源电流I<Sub>S</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器