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2026-05-12
按“电路”筛选,展示 500 条相关能力(共 715 条,已先展示前 500 条)(含该机构旗下分支机构)。
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半导体集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇第3节
检测项目:电源电流I<Sub>DD</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub> 等 53 项,点击展开全部
检测对象:CMOS数字集成电路
检测对象:半导体集成电路TTL电路
检测对象:半导体器件集成电路存储器
检测对象:半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象:半导体集成电路模拟开关
检测对象:半导体集成电路时基电路
检测对象:半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
检测对象:DSP
检测对象:现场可编程门阵列
检测对象:DSP数字信号处理器
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目:输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 24 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路TTL电路
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目:失调误差E<Sub>O</Sub>、数字输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、功耗、数字输入高电平电压/低电平电压、数字输入高电平电流/低电平电流、数字输出高电平、数字输出低电平 等 18 项,点击展开全部
检测对象:集成电路数字/模拟转换器
检测对象:集成电路模拟/数字转换器
半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路 第IV篇第2节
检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、输出电压转换速率、电源电压抑制比 等 18 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路运算放大器
检测对象:半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目:电源电流I<Sub>CC</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、静态接口电源电流I<Sub>ICC0Q</Sub> 等 18 项,点击展开全部
检测对象:DSP
检测对象:现场可编程门阵列
检测对象:DSP数字信号处理器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目:电源电流、功耗、模拟输入电流、增益误差、零点误差(失调误差)、满度误差、微分非线性、积分非线性 等 17 项,点击展开全部
检测对象:集成电路模拟/数字转换器
检测对象:集成电路数字/模拟转换器
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目:静态工作电源电流、导通电阻R<Sub>on</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>、开启时间t<Sub>on</Sub>、通道转换时间 等 16 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路模拟开关
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目:输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输入钳位电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流 等 15 项,点击展开全部
检测对象:CMOS数字集成电路
检测对象:半导体集成电路模拟开关
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态电源电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、输出电压转换速率 等 14 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
检测项目:输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、电源电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、最大共模输入电压 等 14 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目:输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、动态条件下的总电源电流、输出高电平电压 等 13 项,点击展开全部
检测对象:半导体器件集成电路存储器
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项目:功耗P<Sub>W</Sub>、输入阻抗R<Sub>IN</Sub>、数字输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、数字输出低电平电压V<Sub>OL</Sub> 等 13 项,点击展开全部
检测对象:集成电路模拟/数字转换器
检测对象:集成电路数字/模拟转换器
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目:功耗P<Sub>W</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>、满度误差E<Sub>FS</Sub>、微分非线性D<Sub>NL</Sub>、积分非线性I<Sub>NL</Sub>、失码M<Sub>C</Sub>、模拟输入电流I<Sub>I</Sub> 等 13 项,点击展开全部
检测对象:集成电路模拟/数字转换器
检测对象:集成电路数字/模拟转换器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目:输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub>、负向阈值电压V<Sub>IT-</Sub>、滞后电压 △V<Sub>T</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub> 等 12 项,点击展开全部
检测对象:CMOS数字集成电路
检测对象:半导体集成电路时基电路
检测对象:DSP
检测对象:现场可编程门阵列
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
检测项目:输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>o</Sub>、输出纹波电压V<Sub>rip</Sub>、电压调整率S<Sub>v</Sub>、电流调整率S<Sub>i</Sub>、交叉调整率V<Sub>c</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>、效率ŋ 等 12 项,点击展开全部
检测对象:混合集成电路DC/DC电源模块
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目:输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态功耗、开环电压增益、最大共模输入电压、电源电压抑制比、输出高电平电压 等 11 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目:电压调整率、电流调整率、电源纹波抑制比、输出噪声电压、备用电流(耗散电流和耗散电流变化)、基准电压、最小输入输出电压差、输出电压 等 11 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目:输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流、电源电流 等 9 项,点击展开全部
检测对象:CMOS数字集成电路
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、输出电压转换速率、电源电压抑制比 等 9 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目:复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、控制端电压V<Sub>C</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象:半导体集成电路时基电路
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目:复位电压、复位电流、触发电压、触发电流、阈值电压、阈值电流、控制端电压、静态电源电流
检测对象:半导体集成电路时基电路
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
检测项目:输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输入负载电流I<Sub>LI</Sub>、工作状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>、维持状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DDS</Sub>
检测对象:半导体器件集成电路存储器
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
检测项目:输出高电平电压、输出低电平电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输入负载电流、工作状态时电源电流、维持状态时电源电流
检测对象:半导体器件集成电路存储器
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法
检测项目:反向电流I<Sub>R</Sub>、集电极-发射极饱和电压V<Sub>CEsat</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、电流传输比C<Sub>TR</Sub>、脉冲上升时间、下降时 间、延迟时间
检测对象:半导体光电耦合器
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)测试方法
检测项目:输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电压、输出低电平电压
检测对象:半导体器件集成电路存储器
半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998
半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998
检测项目:内部目检(内部目检和结构检查、内部检查、封帽前目检)、键合强度、X射线检查、扫描电子显微镜(SEM)检查
检测对象:电子元器件
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目:静态电源电流、驱动高电平、驱动低电平
检测对象:半导体集成电路运算放大器
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
检测项目:正向电压V<Sub>F</Sub>、反向电流I<Sub>R</Sub>、击穿电压V<Sub>BR</Sub>
检测对象:整流二极管
检测对象:调整二极管
检测对象:发光二极管
混合集成电路外壳通用规范 GJB 2440A-2006
混合集成电路外壳通用规范 GJB 2440A-2006
检测项目:引线电阻、绝缘电阻、介质耐压
检测对象:外壳
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项目:输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>
检测对象:半导体集成电路TTL电路
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目:线性误差E<Sub>L</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>
检测对象:集成电路模拟/数字转换器
检测对象:集成电路数字/模拟转换器
半导体集成电路外壳通用规范 GJB 1420B-2011
半导体集成电路外壳通用规范 GJB 1420B-2011
检测项目:引线电阻、绝缘电阻
检测对象:外壳
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目:负载跃变时的恢复时间
检测对象:混合集成电路DC/DC电源模块
半导体集成电路通用规范 GJB 597B-
半导体集成电路通用规范 GJB 597B-
检测项目:内部目检(内部目检和结构检查、内部检查、封帽前目检)
检测对象:电子元器件
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10741-2000
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10741-2000
检测项目:输入低电平电流
检测对象:CMOS数字集成电路
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-
检测项目:分辨力
检测对象:集成电路数字/模拟转换器
JB/T 12785-2016
霍尔接近开关传感器
检测项目:动作点磁感应强度B<Sub>op</Sub>、复位点磁感应强度B<Sub>RP</Sub>、回差B<Sub>HY</Sub>
检测对象:半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016
霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016
检测项目:动作点磁感应强度、复位点磁感应强度
检测对象:半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目:绝缘电阻R<Sub>I</Sub>
检测对象:混合集成电路DC/DC电源模块