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北京京瀚禹电子工程技术有限公司

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地址:北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室

联系电话:010-80765808

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“电路”筛选,展示 500 条相关能力(共 715 条,已先展示前 500 条)(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 39 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T 17574-1998

半导体集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇第3节

53 项检测项目

检测项目:电源电流I<Sub>DD</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub> 等 53 项,点击展开全部

检测对象:CMOS数字集成电路

电源电流I<Sub>DD</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>输入高电平电流输入低电平电流电源电流

检测对象:半导体集成电路TTL电路

输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>延迟时间t<Sub>d</Sub>建立时间t<Sub>S</Sub>功能测试:(静态测试、动态测试)结电容C<Sub>j</Sub>输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流输出短路电流电源电流输入钳位电压输出高阻态时高电平电流输出高阻态时低电平电流延迟时间建立时间输入输出电容

检测对象:半导体器件集成电路存储器

功能测试(全0全1,55AA、互补读写、Match算法等)输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>动态条件下的总电源电流静态条件下的电源电流存储器的特定时间:读存取时间存储器的特定时间:写恢复时间延迟时间功能测试输出高电平电压输出低电平电压输出高阻态时高电平电流输出高阻态时低电平电流输入高电平电流输入低电平电流

检测对象:半导体集成电路微处理器及外围接口电路

功能测试输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>静态条件下的电源电流输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>动态条件下的总电源电流传输时间t<Sub>PHL</Sub>,t<Sub>PLH</Sub>建立时间T<Sub>S</Sub>、保持时间T<Sub>H</Sub>输入阻抗R<Sub>I</Sub>差分输出电压共模输出电压输入高电平电流输入低电平电流输出高阻态电流输出高电平电压输出低电平电压传输时间建立时间、保持时间输入阻抗

检测对象:半导体集成电路模拟开关

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>静态工作电源电流输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流

检测对象:半导体集成电路时基电路

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高电平电压输出低电平电压

检测对象:半导体集成电路霍尔效应数字开关电路

输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出漏电流I<Sub>OZ</Sub>静态条件下的电源电流输出高电平电压输出低电平电压输出短路电流静态电源电流

检测对象:DSP

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>电源电流I<Sub>CC</Sub>

检测对象:现场可编程门阵列

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>静态接口电源电流I<Sub>ICC0Q</Sub>静态内核电源电流I<Sub>ICCINTQ</Sub>输出高电平电压输出低电平电压(输入)阈值电压和滞后电压输入低电平电压输入高电平电流输入低电平电流静态条件下的电源电流(静态接口电源电流)静态条件下的电源电流(静态内核电源电流)

检测对象:DSP数字信号处理器

输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流静态条件下的电源电流

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

24 项检测项目

检测项目:输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 24 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路TTL电路

输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>输出由高阻态到高电平传输延迟时间t<Sub>PZH</Sub>输出由高阻态到低电平传输延迟时间t<Sub>PZL</Sub>输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</Sub>输出由低电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PLZ</Sub>输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流输出短路电流电源电流输入钳位电压输出高阻态时高电平电流输出高阻态时低电平电流

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006

18 项检测项目

检测项目:失调误差E<Sub>O</Sub>、数字输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、功耗、数字输入高电平电压/低电平电压、数字输入高电平电流/低电平电流、数字输出高电平、数字输出低电平 等 18 项,点击展开全部

检测对象:集成电路数字/模拟转换器

失调误差E<Sub>O</Sub>数字输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>电源电流功耗失调误差增益误差微分线性误差积分非线性线性误差输入阻抗数字端输入漏电流

检测对象:集成电路模拟/数字转换器

功耗数字输入高电平电压/低电平电压、数字输入高电平电流/低电平电流数字输出高电平数字输出低电平增益误差零点误差(失调误差)微分非线性积分非线性
GB/T 17940-2000

半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路 第IV篇第2节

18 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、输出电压转换速率、电源电压抑制比 等 18 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路运算放大器

输入失调电压输入偏置电流输入失调电流静态功耗开环电压增益共模抑制比输出电压转换速率电源电压抑制比输出峰峰值电压增益带宽乘积

检测对象:半导体集成电路电压调整器

电压调整率电流调整率电源纹波抑制比输出噪声电压备用电流(耗散电流和耗散电流变化)基准电压输出短路电流输出极限电流

半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018

半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018

18 项检测项目

检测项目:电源电流I<Sub>CC</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、静态接口电源电流I<Sub>ICC0Q</Sub> 等 18 项,点击展开全部

检测对象:DSP

电源电流I<Sub>CC</Sub>

检测对象:现场可编程门阵列

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>静态接口电源电流I<Sub>ICC0Q</Sub>静态内核电源电流I<Sub>ICCINTQ</Sub>功能测试输出高电平电压输出低电平电压输入低电平电压输入高电平电流输入低电平电流静态条件下的电源电流(静态接口电源电流)静态条件下的电源电流(静态内核电源电流)

检测对象:DSP数字信号处理器

静态条件下的电源电流

集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018

集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018

17 项检测项目

检测项目:电源电流、功耗、模拟输入电流、增益误差、零点误差(失调误差)、满度误差、微分非线性、积分非线性 等 17 项,点击展开全部

检测对象:集成电路模拟/数字转换器

电源电流功耗模拟输入电流增益误差零点误差(失调误差)满度误差微分非线性积分非线性失码直流电源抑制比共模抑制比

检测对象:集成电路数字/模拟转换器

电源电流功耗失调误差双极零点误差增益误差满度误差微分线性误差微分非线性积分非线性直流电源抑制比输出顺从电压范围满度输出电流模拟输出漏电流
GB/T14028-2018

半导体集成电路模拟开关测试方法

16 项检测项目

检测项目:静态工作电源电流、导通电阻R<Sub>on</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>、开启时间t<Sub>on</Sub>、通道转换时间 等 16 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路模拟开关

静态工作电源电流导通电阻R<Sub>on</Sub>导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>开启时间t<Sub>on</Sub>通道转换时间关断时间t<Sub>off</Sub>导通电阻截止态漏极漏电流截止态源极漏电流导通态漏电流开启时间关断时间导通电阻路差

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

15 项检测项目

检测项目:输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输入钳位电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流 等 15 项,点击展开全部

检测对象:CMOS数字集成电路

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输入钳位电压输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输出高电平电流输出低电平电流输出高阻态电流电源电流输出短路电流正向阈值电压负向阈值电压滞后电压

检测对象:半导体集成电路模拟开关

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输入高电平电流输入低电平电流

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

14 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态电源电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、输出电压转换速率 等 14 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路运算放大器

输入失调电压输入偏置电流输入失调电流静态电源电流静态功耗开环电压增益共模抑制比输出电压转换速率电源电压抑制比输出峰峰值电压输出短路电流增益带宽乘积最大共模输入电压最大差模输入电压

半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018

半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018

14 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、电源电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、最大共模输入电压 等 14 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路电压比较器

输入失调电压输入失调电流输入偏置电流电源电流静态功耗开环电压增益共模抑制比最大共模输入电压电源电压抑制比最大差模输入电压输出高电平电压输出低电平电压高电平输出电流低电平输出电流
GB/T 36477-2018

半导体集成电路 快闪存储器测试方法

13 项检测项目

检测项目:输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、动态条件下的总电源电流、输出高电平电压 等 13 项,点击展开全部

检测对象:半导体器件集成电路存储器

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>动态条件下的总电源电流输出高电平电压输出低电平电压输出高阻态时高电平电流输出高阻态时低电平电流输入高电平电流输入低电平电流

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006

13 项检测项目

检测项目:功耗P<Sub>W</Sub>、输入阻抗R<Sub>IN</Sub>、数字输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、数字输出低电平电压V<Sub>OL</Sub> 等 13 项,点击展开全部

检测对象:集成电路模拟/数字转换器

功耗P<Sub>W</Sub>输入阻抗R<Sub>IN</Sub>数字输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>数字输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>数字输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>增益误差E<Sub>G</Sub>零点误差E<Sub>Z</Sub>线性误差E<Sub>L</Sub>微分线性误差E<Sub>DL</Sub>

检测对象:集成电路数字/模拟转换器

数字输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>增益误差E<Sub>G</Sub>零点误差E<Sub>o</Sub>功耗P<Sub>W</Sub>线性误差E<Sub>L</Sub>微分线性误差E<Sub>DL</Sub>

集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018

集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018

13 项检测项目

检测项目:功耗P<Sub>W</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>、满度误差E<Sub>FS</Sub>、微分非线性D<Sub>NL</Sub>、积分非线性I<Sub>NL</Sub>、失码M<Sub>C</Sub>、模拟输入电流I<Sub>I</Sub> 等 13 项,点击展开全部

检测对象:集成电路模拟/数字转换器

功耗P<Sub>W</Sub>增益误差E<Sub>G</Sub>失调误差E<Sub>O</Sub>满度误差E<Sub>FS</Sub>微分非线性D<Sub>NL</Sub>积分非线性I<Sub>NL</Sub>失码M<Sub>C</Sub>模拟输入电流I<Sub>I</Sub>直流电源抑制比P<Sub>SRRDC</Sub>

检测对象:集成电路数字/模拟转换器

失调误差E<Sub>O</Sub>双极零点误差E<Sub>BZ</Sub>直流电源抑制比P<Sub>SRRDC</Sub>增益误差E<Sub>G</Sub>微分非线性D<Sub>NL</Sub>积分非线性I<Sub>NL</Sub>满度误差E<Sub>FS</Sub>功耗P<Sub>W</Sub>输出顺从电压范围V<Sub>OC</Sub>满度输出电流I<Sub>O</Sub>模拟输出漏电流I<Sub>OL</Sub>

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

12 项检测项目

检测项目:输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub>、负向阈值电压V<Sub>IT-</Sub>、滞后电压 △V<Sub>T</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub> 等 12 项,点击展开全部

检测对象:CMOS数字集成电路

输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub>负向阈值电压V<Sub>IT-</Sub>滞后电压 △V<Sub>T</Sub>

检测对象:半导体集成电路时基电路

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>

检测对象:DSP

输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>

检测对象:现场可编程门阵列

输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997

12 项检测项目

检测项目:输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>o</Sub>、输出纹波电压V<Sub>rip</Sub>、电压调整率S<Sub>v</Sub>、电流调整率S<Sub>i</Sub>、交叉调整率V<Sub>c</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>、效率ŋ 等 12 项,点击展开全部

检测对象:混合集成电路DC/DC电源模块

输出电压V<Sub>O</Sub>输出电流I<Sub>o</Sub>输出纹波电压V<Sub>rip</Sub>电压调整率S<Sub>v</Sub>电流调整率S<Sub>i</Sub>交叉调整率V<Sub>c</Sub>输入电流I<Sub>I</Sub>效率ŋ开关频率f<Sub>e</Sub>启动延迟T<Sub>tr</Sub>启动过冲V<Sub>T</Sub>绝缘电阻R<Sub>I</Sub>
GB/T 6798-1996

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

11 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态功耗、开环电压增益、最大共模输入电压、电源电压抑制比、输出高电平电压 等 11 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路电压比较器

输入失调电压输入失调电流输入偏置电流静态功耗开环电压增益最大共模输入电压电源电压抑制比输出高电平电压输出低电平电压高电平输出电流低电平输出电流
GB/T 4377-2018

半导体集成电路电压调整器测试方法

11 项检测项目

检测项目:电压调整率、电流调整率、电源纹波抑制比、输出噪声电压、备用电流(耗散电流和耗散电流变化)、基准电压、最小输入输出电压差、输出电压 等 11 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路电压调整器

电压调整率电流调整率电源纹波抑制比输出噪声电压备用电流(耗散电流和耗散电流变化)基准电压最小输入输出电压差输出电压输出阻抗输出短路电流热调整率
GB/T 35006-2018

半导体集成电路 电平转换器测试方法

9 项检测项目

检测项目:输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流、电源电流 等 9 项,点击展开全部

检测对象:CMOS数字集成电路

输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>输入高电平电流输入低电平电流输出高电平电流输出低电平电流输出高阻态电流电源电流静态电流

半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

9 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、输出电压转换速率、电源电压抑制比 等 9 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路运算放大器

输入失调电压输入偏置电流输入失调电流静态功耗开环电压增益共模抑制比输出电压转换速率电源电压抑制比输出峰峰值电压
GB/T 14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

8 项检测项目

检测项目:复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、控制端电压V<Sub>C</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>

检测对象:半导体集成电路时基电路

复位电压V<Sub>R</Sub>复位电流I<Sub>R</Sub>触发电压V<Sub>TR</Sub>触发电流I<Sub>TR</Sub>阈值电压V<Sub>T</Sub>阈值电流I<Sub>T</Sub>控制端电压V<Sub>C</Sub>静态电源电流I<Sub>+</Sub>

GB/T 14030-92

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

8 项检测项目

检测项目:复位电压、复位电流、触发电压、触发电流、阈值电压、阈值电流、控制端电压、静态电源电流

检测对象:半导体集成电路时基电路

复位电压复位电流触发电压触发电流阈值电压阈值电流控制端电压静态电源电流

半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

7 项检测项目

检测项目:输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输入负载电流I<Sub>LI</Sub>、工作状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>、维持状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DDS</Sub>

检测对象:半导体器件集成电路存储器

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>输入负载电流I<Sub>LI</Sub>工作状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>维持状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DDS</Sub>

半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996

半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996

7 项检测项目

检测项目:输出高电平电压、输出低电平电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输入负载电流、工作状态时电源电流、维持状态时电源电流

检测对象:半导体器件集成电路存储器

输出高电平电压输出低电平电压输出高阻态时高电平电流输出高阻态时低电平电流输入负载电流工作状态时电源电流维持状态时电源电流
GB/T 15651.3-2003

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法

5 项检测项目

检测项目:反向电流I<Sub>R</Sub>、集电极-发射极饱和电压V<Sub>CEsat</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、电流传输比C<Sub>TR</Sub>、脉冲上升时间、下降时 间、延迟时间

检测对象:半导体光电耦合器

反向电流I<Sub>R</Sub>集电极-发射极饱和电压V<Sub>CEsat</Sub>集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>电流传输比C<Sub>TR</Sub>脉冲上升时间、下降时 间、延迟时间
GB/T 36474-2018

半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)测试方法

4 项检测项目

检测项目:输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电压、输出低电平电压

检测对象:半导体器件集成电路存储器

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高电平电压输出低电平电压

半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998

半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998

4 项检测项目

检测项目:内部目检(内部目检和结构检查、内部检查、封帽前目检)、键合强度、X射线检查、扫描电子显微镜(SEM)检查

检测对象:电子元器件

内部目检(内部目检和结构检查、内部检查、封帽前目检)键合强度X射线检查扫描电子显微镜(SEM)检查

半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

3 项检测项目

检测项目:静态电源电流、驱动高电平、驱动低电平

检测对象:半导体集成电路运算放大器

静态电源电流驱动高电平驱动低电平
GB/T 4023-2015

半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管

3 项检测项目

检测项目:正向电压V<Sub>F</Sub>、反向电流I<Sub>R</Sub>、击穿电压V<Sub>BR</Sub>

检测对象:整流二极管

正向电压V<Sub>F</Sub>反向电流I<Sub>R</Sub>击穿电压V<Sub>BR</Sub>

检测对象:调整二极管

正向电压V<Sub>F</Sub>反向电流I<Sub>R</Sub>击穿电压V<Sub>BR</Sub>

检测对象:发光二极管

正向电压V<Sub>F</Sub>反向电流I<Sub>R</Sub>击穿电压V<Sub>BR</Sub>

混合集成电路外壳通用规范 GJB 2440A-2006

混合集成电路外壳通用规范 GJB 2440A-2006

3 项检测项目

检测项目:引线电阻、绝缘电阻、介质耐压

检测对象:外壳

引线电阻绝缘电阻介质耐压

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

2 项检测项目

检测项目:输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>

检测对象:半导体集成电路TTL电路

输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>

集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018

集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018

2 项检测项目

检测项目:线性误差E<Sub>L</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>

检测对象:集成电路模拟/数字转换器

线性误差E<Sub>L</Sub>

检测对象:集成电路数字/模拟转换器

电源电流I<Sub>CC</Sub>

半导体集成电路外壳通用规范 GJB 1420B-2011

半导体集成电路外壳通用规范 GJB 1420B-2011

2 项检测项目

检测项目:引线电阻、绝缘电阻

检测对象:外壳

引线电阻绝缘电阻

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

1 项检测项目

检测项目:负载跃变时的恢复时间

检测对象:混合集成电路DC/DC电源模块

负载跃变时的恢复时间

半导体集成电路通用规范 GJB 597B-

半导体集成电路通用规范 GJB 597B-

1 项检测项目

检测项目:内部目检(内部目检和结构检查、内部检查、封帽前目检)

检测对象:电子元器件

内部目检(内部目检和结构检查、内部检查、封帽前目检)

半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10741-2000

半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10741-2000

1 项检测项目

检测项目:输入低电平电流

检测对象:CMOS数字集成电路

输入低电平电流

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-

1 项检测项目

检测项目:分辨力

检测对象:集成电路数字/模拟转换器

分辨力

JB/T 12785-2016

霍尔接近开关传感器

3 项检测项目

检测项目:动作点磁感应强度B<Sub>op</Sub>、复位点磁感应强度B<Sub>RP</Sub>、回差B<Sub>HY</Sub>

检测对象:半导体集成电路霍尔效应数字开关电路

动作点磁感应强度B<Sub>op</Sub>复位点磁感应强度B<Sub>RP</Sub>回差B<Sub>HY</Sub>

霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016

霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016

2 项检测项目

检测项目:动作点磁感应强度、复位点磁感应强度

检测对象:半导体集成电路霍尔效应数字开关电路

动作点磁感应强度复位点磁感应强度

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法

1 项检测项目

检测项目:绝缘电阻R<Sub>I</Sub>

检测对象:混合集成电路DC/DC电源模块

绝缘电阻R<Sub>I</Sub>

机构信息

机构名称

北京京瀚禹电子工程技术有限公司

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室

联系电话

010-80765808

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