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2026-05-12
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半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目：输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub> 等 18 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体器件集成电路存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
检测对象：DSP
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：DSP数字信号处理器
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>、输出由高阻态到高电平传输延迟时间t<Sub>PZH</Sub> 等 16 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路
检测项目：输出电压转换速率、输出峰峰值电压、输出噪声电压、输出短路电流、输出极限电流、输出峰-峰值电压V<Sub>OPP</Sub>、输出电压转换速率（压摆率）S<Sub>R</Sub>、输出电压V<Sub>o</Sub> 等 11 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路运算放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流、输出短路电流、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub> 等 10 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：输出噪声电压、最小输入输出电压差、输出电压、输出阻抗、输出短路电流、输出电压V<Sub>o</Sub>、输出噪声电压V<Sub>no</Sub>、最小输入输出电压差V<Sub>DROP</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输出高电平电压、输出低电平电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流
检测对象：半导体器件集成电路存储器
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、高电平输出电流、低电平输出电流、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、高电平输出电流、低电平输出电流、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测对象：DSP
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目：输出电压转换速率、输出峰峰值电压、输出短路电流、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出峰-峰值电压V<Sub>OPP</Sub>、输出电压转换速率（压摆率）S<Sub>R</Sub>、最大输出电流I<Sub>Omax</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
DSP测试方法 GJB 7705-2012 方法
DSP测试方法 GJB 7705-2012 方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出高电平电压、输出低电平电压
检测对象：DSP
检测对象：DSP数字信号处理器
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>
检测对象：半导体器件集成电路存储器
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电压、输出低电平电压
检测对象：半导体器件集成电路存储器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目：输出电压转换速率、输出峰峰值电压、输出峰-峰值电压V<Sub>OPP</Sub>、最大输出电流I<Sub>Omax</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电压、输出低电平电压
检测对象：半导体光电耦合器
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电压、输出低电平电压
检测对象：现场可编程门阵列
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流
检测对象：半导体器件集成电路存储器
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：输出顺从电压范围V<Sub>OC</Sub>、满度输出电流I<Sub>O</Sub>、模拟输出漏电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
检测项目：输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>o</Sub>、输出纹波电压V<Sub>rip</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017
检测项目：输出导通电阻、输出电压降、输出漏电流
检测对象：固体继电器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目：输出顺从电压范围、满度输出电流、模拟输出漏电流
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
检测项目：输出逻辑电平、输出波形、逻辑输出电平（方波）
检测对象：晶体振荡器
固体继电器总规范 GJB1515B-2017
固体继电器总规范 GJB1515B-2017
检测项目：输出接通电阻、输出电压降、输出漏电流
检测对象：固体继电器
电流电压传感器总规范 SJ20790-2000
电流电压传感器总规范 SJ20790-2000
检测项目：零点输出、额定输出、满量程输出
检测对象：电流电压传感器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电压、输出电流、输出纹波电压
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项目：数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、数字输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
晶体振荡器通用规范 GJB1648A-2011
晶体振荡器通用规范 GJB1648A-2011
检测项目：逻辑输出电平（方波）、输出波形
检测对象：晶体振荡器
混合和固体延时继电器通用规范 GJB 1513A-2009
混合和固体延时继电器通用规范 GJB 1513A-2009
检测项目：输出电压降、输出漏电流
检测对象：延时继电器
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目：数字输出高电平、数字输出低电平
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
混合和固体延时继电器通用规范 GJB1513A-2009
混合和固体延时继电器通用规范 GJB1513A-2009
检测项目：输出电压降、输出漏电流
检测对象：延时继电器
电流电压传感器总规范 SJ 20790-2000
电流电压传感器总规范 SJ 20790-2000
检测项目：零点输出
检测对象：电流电压传感器
微型小计算机系统设备用开关电源通用规范
检测项目：输出纹波及噪声试验
检测对象：开关电源
电流电压传感器通用规范 GJB 8354-2015
电流电压传感器通用规范 GJB 8354-2015
检测项目：零点输出
检测对象：电流电压传感器
GB/ 14714-2008
微型小计算机系统设备用开关电源通用规范
检测项目：输出纹波及噪声
检测对象：开关电源
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996
检测项目：输出电压转换速率（压摆率）S<Sub>R</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器