数据更新时间
2026-05-12
按“F”筛选，展示 35 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 16 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动（正弦）
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
机载电子设备通用指南 GJB/Z 457-2001 4.6.1 f)
机载电子设备通用指南 GJB/Z 457-2001 4.6.1 f)
检测项目：冲击试验
检测对象：机载电子设备
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>、关断时间t<Sub>off</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：正向电压V<Sub>F</Sub>、正向电流I<Sub>F</Sub>、输入触发电流I<Sub>FT</Sub>
检测对象：半导体光电耦合器
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：正向电流传输比h<Sub>FE</Sub>、正向电压V<Sub>F</Sub>
检测对象：双极型晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：发光二极管
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章 测试方法
检测项目：栅-源截止电压V<Sub>GSoff</Sub>、小信号短路正向跨导g<Sub>fs</Sub>
检测对象：场效应晶体管
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：满度误差E<Sub>FS</Sub>
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
检测项目：开关频率f<Sub>e</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压V<Sub>F</Sub>
检测对象：整流二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：发光二极管
整流二极管测试方法
检测项目：正向电压V<Sub>F</Sub>
检测对象：整流二极管
检测对象：发光二极管
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章 第1节
检测项目：正向电压V<Sub>F</Sub>
检测对象：整流二极管
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：发光二极管
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：正向电压V<Sub>F</Sub>
检测对象：整流二极管
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：发光二极管
半导体光电子器件筛选与验收通用要求 GJB 5018-2001 方法
半导体光电子器件筛选与验收通用要求 GJB 5018-2001 方法
检测项目：正向电压V<Sub>F</Sub>
检测对象：发光二极管
半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇 测试方法 第3节
检测项目：基准电压V<Sub>REF</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：基准电压V<Sub>REF</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器