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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 36474-2018”筛选，展示 4 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电压、输出低电平电压
检测对象：半导体器件集成电路存储器