数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T15651.3-2003”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>、集电极-发射极饱和电压V<Sub>CEsat</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、电流传输比C<Sub>TR</Sub>、脉冲上升时间、下降时 间、延迟时间、反向电流、集电极-发射极饱和电压、集电极-发射极截止电流 等 10 项，点击展开全部
检测对象：半导体光电耦合器