数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T36477-2018”筛选，展示 14 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、动态条件下的总电源电流、输出高电平电压 等 13 项，点击展开全部
检测对象：半导体器件集成电路存储器