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北京京瀚禹电子工程技术有限公司

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北京市 · 北京市

地址:北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室

联系电话:010-80765808

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“GJB 4027A-2006”筛选,展示 28 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 5 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101 2.2条~1601

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101 2.2条~1601

1 项检测项目

检测项目:外部目检和外观及机械检查

检测对象:电子元器件

外部目检和外观及机械检查

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006

1 项检测项目

检测项目:玻璃钝化层完整性检查

检测对象:电子元器件

玻璃钝化层完整性检查

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1100 集成电路 2.6等

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1100 集成电路 2.6等

1 项检测项目

检测项目:内部水汽含量

检测对象:电子元器件

内部水汽含量

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-

13 项检测项目

检测项目:声学扫描显微镜检查(芯片粘接的超声检测)、引出端强度(引线牢固性)、内部目检(内部目检和结构检查、内部检查、封帽前目检)、开封、制样镜检、键合强度、剪切强度(芯片剪切强度)、粘接强度(芯片粘附强度 等 13 项,点击展开全部

检测对象:电子元器件

声学扫描显微镜检查(芯片粘接的超声检测)引出端强度(引线牢固性)内部目检(内部目检和结构检查、内部检查、封帽前目检)开封制样镜检键合强度剪切强度(芯片剪切强度)粘接强度(芯片粘附强度X射线检查扫描电子显微镜(SEM)检查玻璃钝化层完整性检查内部气体成份分析(内部水汽含量)外部目检(包含外观及机械检查)

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-

12 项检测项目

检测项目:声学扫描显微镜检查、可焊性、耐焊接热、引出端强度、内部目检、开封、制样镜检、键合强度 等 12 项,点击展开全部

检测对象:电子元器件

声学扫描显微镜检查可焊性耐焊接热引出端强度内部目检开封制样镜检键合强度剪切强度粘接强度X射线检查扫描电子显微镜(SEM)检查

机构信息

机构名称

北京京瀚禹电子工程技术有限公司

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室

联系电话

010-80765808

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