数据更新时间
2026-05-12
按“Mo”筛选，展示 77 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输入钳位电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流 等 21 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub>、负向阈值电压V<Sub>IT-</Sub>、滞后电压 △V<Sub>T</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub> 等 14 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测对象：DSP
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输入负载电流I<Sub>LI</Sub>、工作状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>、维持状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DDS</Sub>
检测对象：半导体器件集成电路存储器
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输入负载电流、工作状态时电源电流、维持状态时电源电流
检测对象：半导体器件集成电路存储器
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流、电源电流 等 12 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第二节
检测项目：电源电流I<Sub>DD</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>、输入高电平电流、输入低电平电流、电源电流 等 10 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10741-2000
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10741-2000
检测项目：输入低电平电流
检测对象：CMOS数字集成电路