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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

当前查看:中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

北京市 · 北京市

地址:北京市海淀区万寿路27号

联系电话:010-68200821

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“U”筛选,展示 34 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 6 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T 25000.51-2016

系统与软件工程 系统与软件质量要求和评价(SQuaRE) 第51部分:就绪可用软件产品(RUSP)的质量要求和测试细则

8 项检测项目

检测项目:功能性、性能效率、兼容性、易用性、可靠性、信息安全性、维护性、可移植性

检测对象:行业应用软件

功能性性能效率兼容性易用性可靠性信息安全性维护性可移植性
GB/T 25003-2010

VHF/UHF频段无线电监测站电磁环境保护要求和测试方法

1 项检测项目

检测项目:无线电干扰

检测对象:电磁环境检测

无线电干扰
GB/T17574-1998

半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 /Ⅳ

9 项检测项目

检测项目:输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 9 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路TTL/CMOS电路

输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>电源电流I<Sub>CC</Sub>
GB/T4587-2023

半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管

8 项检测项目

检测项目:集电极-基极截止电流I<Sub>CBO</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、发射极-基极截止电流I<Sub>EBO</Sub>、集电极-发射极饱和电压V<Sub>CEsat</Sub>、基极-发射极饱和电压V<Sub>BEsat</Sub>、发射极-基极电压V<sub>EBO</sub>、集电极-基极电压V<sub>CBO</sub>、集电极-发射极电压V<sub>CEO</sub>

检测对象:晶体管

集电极-基极截止电流I<Sub>CBO</Sub>集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>发射极-基极截止电流I<Sub>EBO</Sub>集电极-发射极饱和电压V<Sub>CEsat</Sub>基极-发射极饱和电压V<Sub>BEsat</Sub>发射极-基极电压V<sub>EBO</sub>集电极-基极电压V<sub>CBO</sub>集电极-发射极电压V<sub>CEO</sub>
GB/T4377-2018

半导体集成电路电压调整器测试方法 /

5 项检测项目

检测项目:电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、消耗电流I<Sub>D</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>、输出电压V<Sub>O</Sub>

检测对象:三端稳压电源(电压调整器)

电压调整率S<Sub>V</Sub>电流调整率S<Sub>I</Sub>消耗电流I<Sub>D</Sub>基准电压V<Sub>REF</Sub>输出电压V<Sub>O</Sub>
GB/T6571-1995

半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 /Ⅳ

3 项检测项目

检测项目:反向电流I<Sub>R</Sub>、正向电压V<Sub>F</Sub>、工作电压V<Sub>Z</Sub>

检测对象:二极管

反向电流I<Sub>R</Sub>正向电压V<Sub>F</Sub>工作电压V<Sub>Z</Sub>

机构信息

机构名称

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区万寿路27号

联系电话

010-68200821

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