数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T6798-1996”筛选,展示 12 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目:输入失调电压V<SUB>IO、输入失调电流I<SUB>IO、输入偏置电流I<SUB>IB、静态功耗P<SUB>D、开环电压增益A<SUB>VD、共模抑制比K<SUB>CMR、电源电压抑制比K<SUB>SVR、输出高电平电压V<SUB>OH 等 12 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路电压比较器