数据更新时间
2026-05-12
按“暗室”筛选，展示 13 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 9 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地
检测项目：半电波暗室的场地衰减偏差、全电波暗室的场地衰减偏差、场地电压驻波比
检测对象：半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)
CISPR 16-1-4:2019
无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地 Edition 4.0
检测项目：半电波暗室的场地衰减偏差、全电波暗室的场地衰减偏差、场地电压驻波比
检测对象：半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)
ANSI C63.4-2014
低压电子和电器产品射频噪声发射测量方法，频率范围9 kHz～40 GHz 附录 D
检测项目：半电波暗室的场地衰减偏差
检测对象：半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)
电磁兼容 试验和测量技术 第3部分：射频电磁场辐射抗扰度试验
检测项目：场均匀性
检测对象：半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)
IEC 61000-4-3:2020 Edition 4.0 6.3
电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验
检测项目：场均匀性
检测对象：半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)
信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法
检测项目：背景噪声
检测对象：半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)
CISPR 22:2008 Edition 6.0
信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法
检测项目：背景噪声
检测对象：半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)
工业、科学和医疗设备 射频骚扰特性 限值和测量方法
检测项目：背景噪声
检测对象：半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)
CISPR 11:2015+A1:2016 Edition 6.1
工业、科学和医疗设备 射频骚扰特性 限值和测量方法
检测项目：背景噪声
检测对象：半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)