数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0103 2.2外部目检
HDI和微孔材料的玻璃化转变温度和热膨胀系数(TMA法) IPC-TM-650 2.4.24.5
印制板测试方法 GB/T 4677-2002 5.1.1 试验1a
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法107
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1010.1
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2009.1 外部目检
刚性印制板通用规范 GJB 362C-2021 4.8.4.3
有失效率等级的铝电解电容器通用规范 GJB 603A-2011 4.5.13.1
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代表标准包括 GJB 4027B-2021、IPC-TM-650、GB/T 4677-2002、GJB 360B-2009、GJB 548C-2021、GJB 548B-2005 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 印制线路板和贴装后线路板、印制线路板、微电子器件、集成电路、电子及电气元件、半导体分立器件、多层瓷介(独石)电容器、片式固定电阻器 等,具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途,需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告;报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
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