数据更新时间
2026-05-12
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半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法
检测项目：电源电流、输出低电平、输出高电平、功能验证、写数据参数
检测对象：第三代双倍数据速率同步动态随机存储器
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 /第IV篇、第2节、
检测项目：开环电压放大倍数
检测对象：半导体集成电路运算放大器