数据更新时间
2026-05-12
按“功耗”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018 /
《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018 /
检测项目：静态功耗
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《半导体集成电路电压比较器测试方法》 SJ/T10805-2018 /
《半导体集成电路电压比较器测试方法》 SJ/T10805-2018 /
检测项目：静态功耗
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006 /
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006 /
检测项目：功耗
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：功耗
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.7,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.7,
检测项目：静态功耗
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
检测项目：静态功耗
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：静态功耗
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
检测项目：动态功耗
检测对象：半导体集成电路锁相环