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微电子试验方法和程序 GJB548B-2005 方法

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微电子试验方法和程序 GJB548C-2021 方法

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半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法

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半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法

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电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

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车用分立半导体元器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q101-Rev-E March 1, 2021 表2 第C10项

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集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第C3项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表2 第18项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表3 第18项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表4 第18项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表5 第18项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表6 第18项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表7 第18项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表8 第18项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表9 第18项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表10 第18项

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无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表11 第18项

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车用分立光电半导体器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q102-Rev A April 6, 2020 表2 第C10项

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