数据更新时间
2026-05-12
按“存储”筛选，展示 36 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出漏电流、动态电源电流、静态电源电流、输入低电平、输入高电平、输出低电平 等 16 项，点击展开全部
检测对象：快闪存储器
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法
检测项目：电源电流、输出低电平、输出高电平、功能验证、写数据参数
检测对象：第三代双倍数据速率同步动态随机存储器
《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》 /方法
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输入高电平电流、输入低电平电流、动态条件下的总电源电流、静态条件下的电源电流 等 12 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路-存储器
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A6项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A6项
检测项目：高温存储
检测对象：车用集成电路
汽车传感器的应力测试标准 AEC-Q103-003-Rev March1,2019 M
汽车传感器的应力测试标准 AEC-Q103-003-Rev March1,2019 M
检测项目：低温存储
检测对象：车用微机电系统（MEMS）压力传感器器件
车载应用多芯片模块的可靠性应力测试标准 AEC-Q104-REV-September 14,2017 B
车载应用多芯片模块的可靠性应力测试标准 AEC-Q104-REV-September 14,2017 B
检测项目：非易失性存储器耐久性，数据保留和操作寿命
检测对象：车用多芯片模块