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2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 15 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间、输出由高电平到低电平传输延迟时间、输出由高阻态到高电平传输延迟时间、输出由高阻态到低电平传输延迟时间、输出由高电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高阻态传输延迟时间
检测对象：电平转换器
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间、输出由高电平到低电平传输延迟时间
检测对象：半导体集成电路低电压差分信号电路
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法 》 SJ20646-1997 /
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法 》 SJ20646-1997 /
检测项目：启动延迟
检测对象：混合集成电路DC/DC模块
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第3节
检测项目：延迟时间
检测对象：半导体集成电路-存储器
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：延迟时间
检测对象：快闪存储器
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：输入输出延迟时间
检测对象：SRAM型现场可编程门阵列
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T10735-1996 /3.4至
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T10735-1996 /3.4至
检测项目：延迟时间
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 /
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 /
检测项目：脉冲上升时间、脉冲下降时间、下降传输延迟时间、上升传输延迟时间
检测对象：半导体光电耦合器