成都思科瑞微电子股份有限公司

系统电磁环境效应试验方法

RTCA DO-160G-2010

机载设备环境条件和试验程序

MIL-STD-464D

系统电磁环境效应要求

GB/T 14031-1992

半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

MIL-STD-810H-2019

环境工程考虑和实验室试验 方法

技术侦察装备通用技术要求 第7部分：环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006

技术侦察装备通用技术要求 第7部分：环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006

技术侦察装备通用技术要求 第7部分：环境适应性要求和试验方法 GJB1621.7A-2006

技术侦察装备通用技术要求 第7部分：环境适应性要求和试验方法 GJB1621.7A-2006

GB/T 14032-1992

半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第四部分 气候负荷

ISO 16750-4

道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第四部分 气候负荷 ：2010

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-

舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-

舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-

舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-

舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-

民用飞机机载设备环境条件和方法 第2部分： 温度和高度试验 HB6167.2-2014 5.5.1和

民用飞机机载设备环境条件和方法 第2部分： 温度和高度试验 HB6167.2-2014 5.5.1和

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

IEC 60068-2-1

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 :

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB 150.3-

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB 150.3-

舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB4.2-

舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB4.2-

民用飞机机载设备环境条件和方法 第2部分： 温度和高度试验 HB6167.2-2014 5.5.3,

民用飞机机载设备环境条件和方法 第2部分： 温度和高度试验 HB6167.2-2014 5.5.3,

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

IEC 60068-2-2

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 :

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验

IEC 60068-2-78

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 :

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB4.5-

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB4.5-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB150.9A-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB150.9A-

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB150.9-

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB150.9-

舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB 4.6-

舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB 4.6-

民用飞机机载设备环境条件和方法 第4部分： 湿热试验 HB6167.4-

民用飞机机载设备环境条件和方法 第4部分： 湿热试验 HB6167.4-

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h循环）

IEC 60068-2-30

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h循环） :

军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验 GJB 150.5A-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验 GJB 150.5A-

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5-

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5-

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N：温度变化 7 试验Na

IEC 60068-2-14

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N：温度变化 :2009 7 试验Na

IEC 60068-2-6：2007

环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦) GB/T2423.10-

IEC 60068-2-64：2008

环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh:宽带随机振动和导则 GB/T2423.56-

舰船电子设备环境试验振动试验 GJB4.7-

舰船电子设备环境试验振动试验 GJB4.7-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分:振动试验 GJB150.16A-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分:振动试验 GJB150.16A-

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB 150.16-

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB 150.16-

民用飞机记载设备环境条件和试验方法 第6部分：振动试验 HB6167.6-

民用飞机记载设备环境条件和试验方法 第6部分：振动试验 HB6167.6-

IEC 60068-2-27：2008

环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 GB/T 2423.5-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验 GJB 150.18A-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验 GJB 150.18A-

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-

民用飞机记载设备环境条件和试验方法 第5部分：飞行冲击和坠撞安全试验 HB6167.5-2014 8.1和

民用飞机记载设备环境条件和试验方法 第5部分：飞行冲击和坠撞安全试验 HB6167.5-2014 8.1和

军用装备实验室环境试验方法 第27部分：爆炸分离冲击试验 GJB150.27-

军用装备实验室环境试验方法 第27部分：爆炸分离冲击试验 GJB150.27-

舰船电子设备环境试验 颠震试验 GJB 4.8-

舰船电子设备环境试验 颠震试验 GJB 4.8-

军用设备环境试验方法 温度-高度试验 GJB150.6-

军用设备环境试验方法 温度-高度试验 GJB150.6-

军用设备环境试验方法 温度-湿度-高度试验 GJB150.19-

军用设备环境试验方法 温度-湿度-高度试验 GJB150.19-

军用设备环境试验方法 温度-湿度-振动-高度试验 GJB150.24-

军用设备环境试验方法 温度-湿度-振动-高度试验 GJB150.24-

军用装备实验室环境试验方法 第24部分:温度-湿度-振动-高度试验 GJB150.24A-

军用装备实验室环境试验方法 第24部分:温度-湿度-振动-高度试验 GJB150.24A-

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法和导则：温度/低气压和温度/湿度/低气压综合试验

IEC 60068-2-39

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法和导则：温度/低气压和温度/湿度/低气压综合试验 :

GB/T2423.25-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验

GB/T2423.26-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾 试验Ka

IEC 60068-2-11

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾 :2021 试验Ka

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb：盐雾 试验Kb

IEC 60068-2-52

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb：盐雾 :2017 试验Kb

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11-

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分:盐雾试验 GJB150.11A-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分:盐雾试验 GJB150.11A-

军用装备实验室环境试验方法 第10部分:霉菌试验 GJB150.10A-

军用装备实验室环境试验方法 第10部分:霉菌试验 GJB150.10A-

军用设备环境试验方法 霉菌试验 GJB150.10-

军用设备环境试验方法 霉菌试验 GJB150.10-

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉 试验J

IEC 60068-2-10

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉 :2005 试验J

军用装备实验室环境试验方法 第15部分:加速度试验 GJB150.15A-

军用装备实验室环境试验方法 第15部分:加速度试验 GJB150.15A-

军用设备环境试验方法 加速度试验 GJB150.15-

军用设备环境试验方法 加速度试验 GJB150.15-

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ga和导则稳态加速度 试验Ga和导则稳态加速度

IEC 60068-2-7

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ga和导则稳态加速度 :1986 试验Ga和导则稳态加速度

民用飞机记载设备环境条件和试验方法 第16部分：加速度试验 HB6167.16-

民用飞机记载设备环境条件和试验方法 第16部分：加速度试验 HB6167.16-

环境试验 第2部分:试验和导则 气候（温度，湿度）和动力学（振动，冲击）综合试验

IEC 60068-2-53

环境试验 第2部分:试验和导则 气候（温度，湿度）和动力学（振动，冲击）综合试验 :

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc散热和非散热试验样品的高温振动（正弦）综合试验方法

IEC 60068-2-51

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc散热和非散热试验样品的高温振动（正弦）综合试验方法 :1983 全部条款

环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa：模拟地面上得太阳辐射及其试验导则

IEC 60068-2-5-2018

环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa：模拟地面上得太阳辐射及其试验导则

军用设备环境试验方法 太阳辐射试验 GJB150.7-

军用设备环境试验方法 太阳辐射试验 GJB150.7-

军用装备实验室环境试验方法 第7部分：太阳辐射试验 GJB150.7A-

军用装备实验室环境试验方法 第7部分：太阳辐射试验 GJB150.7A-

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M:低气压

IEC 60068-2-13

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M:低气压 :

军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压（高度） GJB150.2A-

军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压（高度） GJB150.2A-

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB150.2-

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB150.2-

电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-

电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-

电子产品环境应力筛选方法 GJB1032A-2020 全部条款

电子产品环境应力筛选方法 GJB1032A-2020 全部条款

环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热

卫星组件空间环境试验方法 QJ2630.1-

卫星组件空间环境试验方法 QJ2630.1-

车载应用多芯片模块的可靠性应力测试标准 AEC-Q104-REV-September 14,2017 A

车载应用多芯片模块的可靠性应力测试标准 AEC-Q104-REV-September 14,2017 A

《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 /第IV篇、第2节、

《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018 /

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半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996

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半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法

GB/T 6798-96

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 /方法

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《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 /方法

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《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 /方法

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车用分立半导体元器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q101-Rev-E March 1, 2021 表2 第A4项

车用分立半导体元器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q101-Rev-E March 1, 2021 表2 第A4项

集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A4项

集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A4项

集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A5项

集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A5项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表2 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表2 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表3 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表3 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表4 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表4 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表5 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表5 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表6 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表6 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表7 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表7 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表8 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表8 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表9 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表9 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表10 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表10 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表11 第4项

无源元件的应力测试验证 AEC-Q200 REV D June 1, 2010 表11 第4项

车用分立光电半导体器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q102-Rev A April 6, 2020 表2 第A3a项

车用分立光电半导体器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q102-Rev A April 6, 2020 表2 第A3a项

车用分立光电半导体器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q102-Rev A April 6, 2020 表2 第A4项

车用分立光电半导体器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q102-Rev A April 6, 2020 表2 第A4项

汽车传感器的应力测试标准 AEC-Q103-003-Rev March1,2019 M

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