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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 135 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇第3节
检测项目：输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输入高电平电流、输入低电平电流、动态条件下的总电源电流、静态条件下的电源电流、输出高阻抗电流、静态电源电流<i>I</i><sub>S</sub> 等 13 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路-存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输入电流、电源关断输入漏电流、LVDS输出短路电流、电源关断输出漏电流、LVDS输出高阻态电流、静态电源电流、关断电源电流、动态电源电流
检测对象：半导体集成电路低电压差分信号电路
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流、电源电流、输出短路电流
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：输入低电平电流、输入高电平电流、静态电流、输出高电平电流、输出低电平电流、电源电流
检测对象：电平转换器
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、电源电流、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：输入低电平漏电流、输入高电平漏电流、带上拉电阻的引出端输入电流、带下拉电阻的引出端输入电流、静态接口电源电流、静态内核电源电流
检测对象：SRAM型现场可编程门阵列
GB/T 6798-96
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：低电平选通电流、高电平选通电流、输入失调电流、输入偏置电流、高电平输出电流
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出漏电流、动态电源电流、静态电源电流
检测对象：快闪存储器
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 /
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 /
检测项目：反向电流（二极管）、输出截止电流、电流传输比、高电平电源电流、低电平电源电流
检测对象：半导体光电耦合器
半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章第1节
检测项目：集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、发射极-基极截止电流、正向电流传输比
检测对象：双极型晶体管
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 /第IV篇、第2节、
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、静态电源电流、静态电流
检测对象：半导体集成电路运算放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018 /
《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018 /
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、高电平输出电流、低电平输出电流
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T14030-92
《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》 /
检测项目：复位电流、触发电流、阈值电流、静态电源电流
检测对象：半导体集成电路时基电路
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：电源电流、模拟输入电流、满度输出电流、模拟输出漏电流
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997 /
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997 /
检测项目：输出电流、电流调整率、输入电流
检测对象：混合集成电路DC/DC模块
《半导体集成电路模拟开关测试方法》 /
检测项目：截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关
《半导体激光二极管组件测试方法》 YD/T 701-93 /
《半导体激光二极管组件测试方法》 YD/T 701-93 /
检测项目：正向电流、激光二极管组件输出光功率-正向电流特性、阈值电流
检测对象：光电器件
《固态继电器总规范》 GJB 1515A-2001 /
《固态继电器总规范》 GJB 1515A-2001 /
检测项目：偏置电流、控制电流、断态输出漏电流
检测对象：固态继电器
《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》 /第IV章
检测项目：漏极电流、栅极截止电流或栅极漏泄电流
检测对象：场效应晶体管
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006 /
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006 /
检测项目：数字输入高电平电流、数字输入低电平电流
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
检测项目：输入偏置电流、输入失调电流
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电流调整率、耗散电流ID和耗散电流变化
检测对象：半导体集成电路电压调整器
《有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 733B-2011 /
《有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 733B-2011 /
检测项目：直流漏电流
检测对象：钽电容
《非固体电解质钽固定电容器总规范》 GJB 1312A-2001 /
《非固体电解质钽固定电容器总规范》 GJB 1312A-2001 /
检测项目：直流漏电流
检测对象：钽电容
《有可靠性指标的固体电解质钽固定电容器总规范》 GJB 63B-2001 /
《有可靠性指标的固体电解质钽固定电容器总规范》 GJB 63B-2001 /
检测项目：直流漏电流
检测对象：钽电容
《PIN、雪崩光电二极管测试方法》 SJ/T 2354-2015 /
《PIN、雪崩光电二极管测试方法》 SJ/T 2354-2015 /
检测项目：暗电流
检测对象：光电器件
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.3,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.3,
检测项目：输入偏置电流
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
检测项目：输入失调电流
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.15,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.15,
检测项目：输出短路电流
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：低电平输出电流
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法
检测项目：电源电流
检测对象：第三代双倍数据速率同步动态随机存储器
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 /方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 /方法
检测项目：反向电流
检测对象：整流二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：开关二极管
《半导体 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》 /第IV章、第2节、
检测项目：反向电流
检测对象：调整二极管
检测对象：开关二极管
GJB152A-1997
军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 5 方法 CS
检测项目：CS109 50Hz～100kHz壳体电流传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
GJB151B-2013
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量
检测项目：CS109 50Hz～100kHz壳体电流传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
MIL-STD-461G
设备和分系统电磁干扰特性的控制度要求
检测项目：CS109 50Hz～100kHz壳体电流传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
HJB34A-2007
舰船电磁兼容性要求
检测项目：CS09 50Hz~100kHz壳体电流传导敏感度
检测对象：船舶专用设备
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011 /
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011 /
检测项目：输入电流功率
检测对象：晶体振荡器