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2026-05-12
按“电路”筛选，展示 342 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 61 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 集成电路 第2部分：数字电路 方法
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输入高电平电流、输入低电平电流、动态条件下的总电源电流、静态条件下的电源电流 等 26 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路-存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输入高电平阈值电压、输入低电平阈值电压、输入电流、电源关断输入漏电流、输出LVDS高电压、输出LVDS低电压、共模输出电压、差分输出电压 等 19 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路低电压差分信号电路
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入低电平电流、输入高电平电流、静态电流、输入高电平电压、输入低电平电压、输出高电平电流 等 18 项，点击展开全部
检测对象：电平转换器
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出漏电流、动态电源电流、静态电源电流、输入低电平、输入高电平、输出低电平 等 16 项，点击展开全部
检测对象：快闪存储器
半导体集成电路第3部分：模拟集成电路 第IV篇第2节
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态电源电流、共模抑制比、电源电压抑制比、输出电压范围、开环电压放大倍数 等 15 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路运算放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：电源电流、功耗、模拟输入电流、增益误差、失调误差、满度误差、微分非线性误差、失码 等 14 项，点击展开全部
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006 /
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006 /
检测项目：数字输出高电平电压、数字输出低电平电压、数字输入高电平电压、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、功耗、增益误差 等 13 项，点击展开全部
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：数据保持电压、输入低电平漏电流、输入高电平漏电流、带上拉电阻的引出端输入电流、带下拉电阻的引出端输入电流、静态接口电源电流、静态内核电源电流、输入高电平电压 等 13 项，点击展开全部
检测对象：SRAM型现场可编程门阵列
《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018 /
《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018 /
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、最大共模输入电压、静态功耗、共模抑制比、开环电压增益、输出高电平电压 等 12 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：输入钳位电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流 等 10 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章第1节
检测项目：集电极-基极击穿电压、发射极-基极击穿电压、集电极-发射极击穿电压、集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、发射极-基极截止电流、正向电流传输比、集电极-发射极饱和压降 等 9 项，点击展开全部
检测对象：双极型晶体管
GB/T 6798-96
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：电源电压抑制比、低电平选通电流、高电平选通电流、输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、开环电压增益、共模抑制比 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997 /
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997 /
检测项目：输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、输入电流、效率、绝缘电阻
检测对象：混合集成电路DC/DC模块
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：模拟电压工作范围、导通电阻、导通电阻路差、截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流、开启时间、关断时间
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T14030-92
《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》 /
检测项目：复位电压、复位电流、触发电压、触发电流、阈值电压、阈值电流、控制端电压、静态电源电流
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：输出高电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、电源电流、输入钳位电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
检测项目：输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、输出电压转换速率、电源电压抑制比、输出峰-峰电压
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
检测项目：满量程误差、线性误差、标度因子误差、馈通误差、共模抑制比、共模输入电压范围、小信号带宽、转换速率
检测对象：模拟乘法器
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：基准电压、最小输入输出电压差、电压调整率、电流调整率、电源纹波抑制比、耗散电流ID和耗散电流变化、输出电压
检测对象：半导体集成电路电压调整器
《微波电路放大器测试方法》 GJB8125-2013 /
《微波电路放大器测试方法》 GJB8125-2013 /
检测项目：功率增益、功率增益平坦度、反向隔离度、1分贝压缩输出功率、截距点功率、输入回波损耗、输出回波损耗
检测对象：微波电路放大器
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
检测项目：方波占空系数、中心频率最大值、中心频率偏差、中心频率电源电压灵敏度、解调输出直流电压、解调输出电压幅度
检测对象：半导体集成电路锁相环
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
检测项目：输入失调电流、开环电压增益、增益带宽乘积、最大共模输入电压、最大差模输入电压
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项目：线性误差、增益误差、采集时间、孔径时间、采样/保持失调电压
检测对象：半导体集成电路采样/保持放大器
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法
检测项目：电源电流、输出低电平、输出高电平、功能验证、写数据参数
检测对象：第三代双倍数据速率同步动态随机存储器
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法 》 SJ20646-1997 /
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法 》 SJ20646-1997 /
检测项目：交叉调整率、开关频率、启动延迟、启动过冲
检测对象：混合集成电路DC/DC模块
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：静态功耗、输出高电平电压、输出低电平电压、低电平输出电流
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《微波电路 微波开关测试方法》 SJ20610-96 /
《微波电路 微波开关测试方法》 SJ20610-96 /
检测项目：电压驻波比、插入损耗、隔离度
检测对象：微波开关
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ20961-2006 /
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ20961-2006 /
检测项目：线性误差、微分线性误差
检测对象：A/D转换器
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
检测项目：动态功耗、压控振荡器最高工作频率
检测对象：半导体集成电路锁相环
《半导体分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管》 /
检测项目：正向电压、击穿电压
检测对象：整流二极管
基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证 AEC-Q100-REV-J：2023 表2、A
基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证 AEC-Q100-REV-J：2023 表2、A
检测项目：高压蒸煮、高加速应力试验
检测对象：电工电子产品及专用设备
《半导体集成电路电压比较器测试方法》 SJ/T10805-2018 /
《半导体集成电路电压比较器测试方法》 SJ/T10805-2018 /
检测项目：静态功耗
检测对象：半导体集成电路电压比较器
印制电路连接器及其附件通用规范 GJB1438A-2006
印制电路连接器及其附件通用规范 GJB1438A-2006
检测项目：互换性
检测对象：连接器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目：积分非线性误差
检测对象：A/D转换器
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 J/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 J/T10735-1996
检测项目：输出低电平电压
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996
检测项目：输入失调电压
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.1,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.1,
检测项目：输入失调电压
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.3,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.3,
检测项目：输入偏置电流
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.7,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.7,
检测项目：静态功耗
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.9,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.9,
检测项目：共模抑制比
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.10,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.10,
检测项目：输出电压转换速率
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.12,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.12,
检测项目：电源电压抑制比
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.13,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.13,
检测项目：输出峰-峰电压
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.15,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.15,
检测项目：输出短路电流
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
检测项目：电源电压抑制比
检测对象：半导体集成电路电压比较器
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A4项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A4项
检测项目：温度循环
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A5项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A5项
检测项目：功率温度循环
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A6项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第A6项
检测项目：高温存储
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第B1项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第B1项
检测项目：高温工作寿命
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第B2项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第B2项
检测项目：早夭试验
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第B3项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第B3项
检测项目：NVM耐久性、数据保留和操作寿命
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第C1项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第C1项
检测项目：键合线剪切强度
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第C2项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第C2项
检测项目：键合线拉力
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第C3项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第C3项
检测项目：可焊性
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第C4项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第C4项
检测项目：物理尺寸
检测对象：车用集成电路
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第G4项
集成电路的基于失效机理的应力测试验证 AEC - Q100 - REV-H September 11, 2014 表2 第G4项
检测项目：粗细检漏
检测对象：车用集成电路
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T10735-1996 /3.4至
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T10735-1996 /3.4至
检测项目：延迟时间
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
《半导体分立器件和集成电路 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》 /第IV章、第2节、
检测项目：工作电压
检测对象：调整二极管
半导体集成电路机械和气候试验方法 SJ/T 10745-1996
半导体集成电路机械和气候试验方法 SJ/T 10745-1996
检测项目：高压蒸煮
检测对象：电工电子产品及专用设备
霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016
霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016
检测项目：动作点磁感应强度、复位点磁感应强度
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
《微波元器件性能测试方法》 GJB2650-96 /方法
《微波元器件性能测试方法》 GJB2650-96 /方法
检测项目：噪声系数
检测对象：微波电路放大器