数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998 /方法1
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB151B-2013 5.10
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法 GB/T 35007-2018 5.10
《半导体集成电路电平转换器测试方法》 GB/T 35006-2018 /6.12
《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》 GB/T17574-1998 /方法4、方法5
军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-1997 5 方法 CE101
舰船电磁兼容性要求 HJB34A-2007 10.1
半导体集成电路 快闪存储器测试方法 GB/T 36477-2018 5.1.2
成都思科瑞微电子股份有限公司已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GB/T 17574-1998、GJB151B-2013、GB/T 35007-2018、GB/T 35006-2018、GB/T17574-1998、GJB152A-1997 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电工电子产品及专用设备、专用设备和分系统、电子元器件、半导体集成电路运算放大器、半导体集成电路电压比较器、半导体集成电路-TTL电路、D/A转换器、电子元器件（DPA试验） 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
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