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2026-05-12
按“输出”筛选，展示 103 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 33 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输出高电平电流、输出低电平电流、输出由低电平到高电平传输延迟时间、输出由高电平到低电平传输延迟时间、输出由高阻态到高电平传输延迟时间、输出由高阻态到低电平传输延迟时间 等 12 项，点击展开全部
检测对象：电平转换器
半导体器件 集成电路 第2部分：数字电路 方法
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输出高阻抗电流、输出低电平电压<i>V</i><sub>OL</sub>、输出低电平电流、输出高电平电流 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路-存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输出LVDS高电压、输出LVDS低电压、共模输出电压、差分输出电压、LVDS输出短路电流、电源关断输出漏电流、LVDS输出高阻态电流、输出由低电平到高电平传输延迟时间 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路低电压差分信号电路
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态电流、输出短路电流
检测对象：CMOS数字集成电路
《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018 /
《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018 /
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、高电平输出电流、低电平输出电流
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：输出高电平电压、输出短路电流、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997 /
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997 /
检测项目：输出电压、输出电流、输出纹波电压
检测对象：混合集成电路DC/DC模块
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：输出顺从电压范围、满度输出电流、模拟输出漏电流
检测对象：D/A转换器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、低电平输出电流
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：输出漏电流、输出低电平、输出高电平
检测对象：快闪存储器
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入输出延迟时间
检测对象：SRAM型现场可编程门阵列
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 /
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 /
检测项目：输出截止电流、输出高电平电压、输出低电平电压
检测对象：半导体光电耦合器
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011 /
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011 /
检测项目：输出电压、逻辑输出电平、输出波形
检测对象：晶体振荡器
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 /第IV篇、第2节、
检测项目：输出电压范围、输出电压漂移
检测对象：半导体集成电路运算放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：最小输入输出电压差、输出电压
检测对象：半导体集成电路电压调整器
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006 /
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006 /
检测项目：数字输出高电平电压、数字输出低电平电压
检测对象：A/D转换器
《微波电路放大器测试方法》 GJB8125-2013 /
《微波电路放大器测试方法》 GJB8125-2013 /
检测项目：1分贝压缩输出功率、输出回波损耗
检测对象：微波电路放大器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
检测项目：输出电压转换速率、输出峰-峰电压
检测对象：半导体集成电路运算放大器
《固态继电器总规范》 GJB 1515A-2001 /
《固态继电器总规范》 GJB 1515A-2001 /
检测项目：输出电压降、断态输出漏电流
检测对象：固态继电器
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
检测项目：解调输出直流电压、解调输出电压幅度
检测对象：半导体集成电路锁相环
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法
检测项目：输出低电平、输出高电平
检测对象：第三代双倍数据速率同步动态随机存储器
《微波功率分配器通用规范》 GJB 5616-2006 /
《微波功率分配器通用规范》 GJB 5616-2006 /
检测项目：相邻输出路间隔离
检测对象：功率分配器/合成器
《功率分配器、功率合成器和功率分配/合成器通用规范》 GJB 1426A-2011 /
《功率分配器、功率合成器和功率分配/合成器通用规范》 GJB 1426A-2011 /
检测项目：相邻输出路间隔离
检测对象：功率分配器/合成器
《半导体激光二极管组件测试方法》 YD/T 701-93 /
《半导体激光二极管组件测试方法》 YD/T 701-93 /
检测项目：激光二极管组件输出光功率-正向电流特性
检测对象：光电器件
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 J/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 J/T10735-1996
检测项目：输出低电平电压
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.10,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.10,
检测项目：输出电压转换速率
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.13,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.13,
检测项目：输出峰-峰电压
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.15,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.15,
检测项目：输出短路电流
检测对象：半导体集成电路运算放大器
GB/T 6798-96
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：高电平输出电流
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GJB152A-1997
军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 5 方法 RE
检测项目：RE103 10kHz～40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射
检测对象：专用设备和分系统
GJB151B-2013
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量
检测项目：RE103 10kHz～40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射
检测对象：专用设备和分系统
MIL-STD-461G
设备和分系统电磁干扰特性的控制度要求
检测项目：RE103 10kHz～40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射
检测对象：专用设备和分系统
HJB34A-2007
舰船电磁兼容性要求
检测项目：RE03 10kHz~ 40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射
检测对象：船舶专用设备