数据更新时间
2026-05-12
按“TTL电路”筛选，展示 23 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：输出高电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、电源电流、输入钳位电压、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 J/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 J/T10735-1996
检测项目：输出低电平电压
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T10735-1996 /3.4至
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T10735-1996 /3.4至
检测项目：延迟时间
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 /方法
检测项目：延迟时间、建立时间、输入钳位电压、输入低电平电压、输入高电平电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流 等 13 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路-TTL电路