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2026-05-12
按“光”筛选，展示 55 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 19 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 5435-2005
机载有源矩阵液晶显示器光度和色度测量方法
检测项目：对比度、对比率、对比度视角、亮度、亮度均匀性、镜面反射系数、漫反射系数、色度、串扰
检测对象：液晶显示模块
液晶显示器件第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数
检测项目：对比度、对比率、响应时间、对比度视角、亮度、亮度均匀性、色度、色彩再现性、串扰
检测对象：液晶显示模块
液晶显示器件第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数
检测项目：对比度、对比率、响应时间、对比度视角、亮度、亮度均匀性、色度、色彩再现性、串扰
检测对象：液晶显示模块
GJB5249-2004
纤维光学波分复用器/解复用器通用规范
检测项目：方向性、中心波长、波长热稳定性、波长隔离度、通道宽度、通道平坦度
检测对象：光纤互连器件、光纤开关
GJB915A-1997
纤维光学试验方法 方法
检测项目：插入损耗、回波损耗、外观和机械检查、温度变化、耐湿
检测对象：光纤互连器件、光纤开关
检测对象：电子元器件
GJB1936A-2009
纤维光学无源耦合器通用规范
检测项目：附加损耗、分光比、分光比均匀性、方向性、带宽
检测对象：光纤互连器件、光纤开关
纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-5部分：检查和测量 衰减对波长的依赖性
检测项目：带宽、波长隔离度
检测对象：光纤互连器件、光纤开关
GB/T 30854-2014
LED发光用氮化镓基外延片
检测项目：外延片发光波长、外延层厚度
检测对象：第三代半导体材料
纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-4部分：检查和测量 衰减
检测项目：插入损耗
检测对象：光纤互连器件、光纤开关
纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-6部分：检查和测量 回波损耗
检测项目：回波损耗
检测对象：光纤互连器件、光纤开关
纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-20部分：检查和测量 纤维光学分路器件的方向性
检测项目：方向性
检测对象：光纤互连器件、光纤开关
GB/T 18310.14-1997
纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-14部分：试验 最大输入功率
检测项目：最大输入功率
检测对象：光纤互连器件、光纤开关
GB/T 18310.14-2003
纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-14部分：试验 最大输入功率
检测项目：最大输入功率
检测对象：光纤互连器件、光纤开关
GB/T 30656-2014
碳化硅单晶抛光片
检测项目：结晶质量
检测对象：第三代半导体材料
GB/T 31351-2014
碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
检测项目：微管密度
检测对象：第三代半导体材料
硅抛光片表面质量目测检验方法
检测项目：表面质量
检测对象：第三代半导体材料
GB/T 32282-2015
氮化镓单晶位错密度的测量阴极荧光显微镜法
检测项目：位错密度
检测对象：第三代半导体材料
SJ 21633-2021
碳化硅外延材料少子寿命的激光微波光电导衰减测试方法
检测项目：碳化硅少子寿命
检测对象：第三代半导体材料
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：铅锡焊料成分分析-X射线荧光检测
检测对象：电子元器件