数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法 1003
电子及电气元件试 验方法 GJB360B-2009 方法201
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1003
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法1021
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1001
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法101
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目0103-1、0202-1、0204-1、0205-1、0206-1、0207-1、0208-1、0801-1、0803-1、1001-1、1002-1、1003-1、1101-1、1102-1、1103-1、1201-1、1202-1
有失效率等级的铝电解电容器通用规范 GJB603A-2011 4.5.11
株洲宏达电子股份有限公司实验中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB548C-2021、GJB360B-2009、GJB548B-2005、GJB128A-97、GJB128B-2021、GJB360A-96 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电容器、微电子器件、电子及电气元件、半导体分立器件、专用设备、电子元器件(DPA)、射频隔离器和环行器、电感器 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
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