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2026-05-12
按“F”筛选，展示 25 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 11 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JJF1347-2012
全球定位系统(GPS)接收机(测地型)型式评价大纲
检测项目：低温试验、高温试验、湿热试验、冲击试验、跌落试验
检测对象：电子设备、产品
JEDEC JESD22-A104F.01-2023
温度循环
检测项目：温度循环、温度循环热试验、温度循环分层试验
检测对象：元器件
JEDEC JESD24-3-1990(R2002)
垂直功率MOSFET的热阻测量（源漏极电压法）
检测项目：热阻
检测对象：元器件
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc: 振动(正弦)
检测项目：振动试验
检测对象：电子设备、产品
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
检测项目：振动试验
检测对象：电子设备、产品
SJT11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测项目：功能测试、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流和输入低电平电流、上电电流
检测对象：现场可编程门阵列(FPGA)
半导体器件 分立器件和集成电路第8部分_场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：正向跨导gfs、栅源截止电压VGSoff
检测对象：场效应晶体管
GJB9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：满度误差EFS、无杂散动态范围SFDR
检测对象：数模转换器
检测对象：模数转换器
半导体器件 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管
检测项目：寄生二极管正向电压VF
检测对象：绝缘栅双极晶体管
半导体器件 分立器件 第9部分 绝缘栅双极晶体管(IGBT)
检测项目：关断期间的各时间间隔(td(off)、tf、toff，tz) 和关断能量Eoff
检测对象：绝缘栅双极晶体管
半导体器件 第6部分 晶闸管
检测项目：断态正向漏电流IAKF(IDRM)
检测对象：晶闸管