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数据更新时间
2026-05-12
按“存储器”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC - Q100-005 - REV-D1-2012
非易失性存储器编程/擦除耐久性， 数据保留和工作寿命测试
检测项目：耐久性和数据保持试验
检测对象：电子半导体产品和系统
AEC-Q100-005-2012
非易失性存储器耐久性，数据保留和操作寿命
检测项目：工作寿命试验
检测对象：电子半导体产品和系统