上海市
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数据更新时间
2026-05-12
已按“湿热，稳态”定位到该机构。登录后查看该机构与关键词匹配的能力明细，也可以留下需求让工程师帮您确认。
能力明细已保护
可以换标准号、产品或检测项目继续搜索；也可以留下需求，让工程师帮您确认是否能做。
能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法：1021
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 1009.2
电子和电气元件的试验方法标准 MIL-STD-202H-2015 方法：103
半导体器件试验方法 MIL-STD-750F-2012 方法：1037
微电子器件试验方法 MIL-STD-883L-2019 方法 3015.9
基于集成电路应力测试认证的失效机理 AEC-Q100H-2014 A1
基于车用多芯片组件应力测试认证的失效机理 AEC-Q104-2017 A1
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 107
北测上海电子科技有限公司已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB 128B-2021、GJB548C-2021、MIL-STD-202H-2015、MIL-STD-750F-2012、MIL-STD-883L-2019、AEC-Q100H-2014 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子半导体产品和系统 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试，或切换到其他分公司查看。