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数据更新时间
2026-05-12
按“环”筛选,展示 66 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 34 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
JESD22-A105D-2020
功率温度循环
检测项目:间歇运行寿命试验、温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
JESD22-A105-2011
功率温度循环
检测项目:温度循环试验、间歇运行寿命试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GJB 150. 3A- 2009
军用装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验
检测项目:温度储存试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GJB 150.4A-2009
军用装备实验室环境试验方法第4部分: 低温试验
检测项目:温度储存试验
检测对象:电子半导体产品和系统
IEC 60068-2-67-2019
环境测试 –第2-67部分:测试 – 测试Cy:湿热,稳态,加速测试主要用于组件
检测项目:高加速温湿度应力试验
检测对象:电子半导体产品和系统
IEC 60068-2-66-1994
环境测试 - 第2部分:测试方法 - 测试CX:湿热,稳态(不饱和加压蒸汽)
检测项目:高压蒸煮试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GB/T 2423.3—2016
环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
检测项目:恒定湿热试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GB/T 2423.50—2012
环境试验 第2部分:试验方法 试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验
检测项目:恒定湿热试验
检测对象:电子半导体产品和系统
IEC 60068-2-78:2012
环境试验 第2-78部分:试验 试验室:湿热,稳定状态
检测项目:恒定湿热试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GJB .150. 9A- 2009
军用装备实验室环境试验方法第9部分:湿热试验
检测项目:交变湿热试验
检测对象:电子半导体产品和系统
IEC 60068-2-30-2005
环境测试 - 第2-30部分:测试 - 测试Db:湿热,循环(12h + 12 h循环)
检测项目:交变湿热试验
检测对象:电子半导体产品和系统
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Db:交变湿热(12h+12h循环)
检测项目:交变湿热试验
检测对象:电子半导体产品和系统
环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
IEC 60068-2-14:2023
环境试验 第2-14部分试验 试验N温度变化
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
JESD22-A104F.01-2023
温度循环试验
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GJB150. 5A- 2009
军用装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
检测项目:温度储存试验
检测对象:电子半导体产品和系统
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
检测项目:温度储存试验
检测对象:电子半导体产品和系统
IEC 60068-2-1-2007
环境试验.第2-1部分:试验.试验A:低温
检测项目:温度储存试验
检测对象:电子半导体产品和系统
IEC 60068-2-2-2007
环境试验 第2-2部分:试验 试验B:高温
检测项目:温度储存试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GJB 150. 11A- 2009
军用装备实验室环境试验方法第11部分:盐雾试验
检测项目:盐雾试验
检测对象:电子半导体产品和系统
JESD201A-2020
锡和锡合金表面涂层的锡须灵敏度环境验收要求
检测项目:锡须观察
检测对象:电子半导体产品和系统
IEC 60068-2-82-2019
环境测试 - 第 2-82 部分:测试 - 测试 Xw1:电子组件中使用的组件和零件的晶须测试方法
检测项目:锡须观察
检测对象:电子半导体产品和系统
JESD22-A122B-2023
功率循环试验
检测项目:功率循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
IEC 60068-2-14-2009
环境试验 第2-14部分试验 试验N温度变化
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
检测项目:恒定湿热试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GJB 150. 9A- 2009
军用装备实验室环境试验方法第9部分:湿热试验
检测项目:交变湿热试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
MIL-STD-202H-2015
电子和电气元件的试验方法标准 方法:
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
JESD22-A106B.02-2022
高低温冲击试验
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
AEC-Q100H-2014
基于集成电路应力测试认证的失效机理 A
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
AEC-Q104-2017
基于车用多芯片组件应力测试认证的失效机理 A
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统
AEC-Q200D-2010
无源元件的应力测试验证
检测项目:温度循环试验
检测对象:电子半导体产品和系统