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数据更新时间
2026-05-12
按“IEC TS 61967-3:2014”筛选,展示 1 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
IEC TS 61967-3: 2014
集成电路 电磁发射测量 辐射发射测量 表面扫描法
检测项目:辐射发射测量-表面扫描法
检测对象:集成电路(IC)