数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T10804-2000
半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T10804-2000
检测项目：输出由高阻态到高电平传输延迟时间、输出由高阻态到低电平传输延迟时间、输出由高电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高电平传输延迟时间、输出由高电平到低电平传输延迟时间
检测对象：电平转换器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间、输出由高电平到低电平传输延迟时间
检测对象：CMOS电路
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：脉冲上升时间、脉冲下降时间、下降传输延迟时间、上升传输延迟时间
检测对象：光电模块
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：启动延迟
检测对象：DC/DC变换器