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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 89 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T10804-2000
半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T10804-2000
检测项目：输入电流、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、电源电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：电平转换器
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管
检测项目：集电极电流、峰值集电极电流、基极电流、峰值基极电流、（直流法）集电极-发射极截止电流、（直流法）集电极-基极截止电流、（直流法）发射极-基极截止电流、输出电流
检测对象：双极型晶体管
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第IV篇 第2节
检测项目：电源电流、输入失调电流、输入偏置电流、备用电流、短路电流、短路输出电流、输入失调电流温度系数、输入偏置电流温度系数
检测对象：模拟集成电路
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、高电平输出电流、低电平输出电流、控制端电流、输出漏电流、输入失调电流温度系数、输入偏置电流温度系数
检测对象：电压比较器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态时高电平电流、电源电流
检测对象：CMOS电路
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：最大直流集电极电流、正向电流、反向电流、输出截止电流、电流传输比
检测对象：光电模块
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第IV章
检测项目：结栅型（A型）的栅极截止电流、绝缘栅型（B和C型）的栅极漏泄电流、漏极电流（A、B和C型）（ID）、漏极截止电流（A、B和C型）
检测对象：场效应晶体管
半导体集成电路运算放大器测试方法 QJ 2491-1993
半导体集成电路运算放大器测试方法 QJ 2491-1993
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、输入失调电流温度系数、输入偏置电流温度系数
检测对象：运算放大器
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：复位电流、触发电流、阈值电流、静态电源电流
检测对象：时基电路
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：集电极-发射极截止电流、集电极-基极截止电流、反向漏电流
检测对象：半导体分立器件
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：输出电流限制、短路电流、电流调整率
检测对象：电压调整器
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流
检测对象：模拟开关
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：电流调整率、输入电流、输出电流
检测对象：DC/DC变换器
半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件 第Ⅲ篇 第1节
检测项目：正向电流、反向电流
检测对象：微波器件
半导体光电模块通用规范 GJB 8120-2013 B.
半导体光电模块通用规范 GJB 8120-2013 B.
检测项目：最大直流集电极电流、最大正向输入直流电流
检测对象：光电模块
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A-1997
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A-1997
检测项目：CS109 50Hz～100kHz壳体电流传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-1997 方法 CS
军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-1997 方法 CS
检测项目：CS109 50Hz～100kHz壳体电流传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB151B-2013
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB151B-2013
检测项目：CS109 50Hz～100kHz壳体电流传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB151C-2024
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB151C-2024
检测项目：CS109 50Hz～100kHz壳体电流传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：直流法反向电流
检测对象：整流二极管
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第IV章 第1节 1、第2节
检测项目：反向电流
检测对象：二极管
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.16、
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.16、
检测项目：电平电源电流
检测对象：光电模块
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
检测项目：泄漏电流
检测对象：电子测试设备
半导体集成电路电压比较器测试方法 第1节（5.3、6.2、8、9）、第2节（8、9）
检测项目：输入输出电流基本特性
检测对象：电压比较器
电磁继电器通用规范 GJB 1042A-2002
电磁继电器通用规范 GJB 1042A-2002
检测项目：线圈电流
检测对象：电磁继电器
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB65C-2021
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB65C-2021
检测项目：线圈电流
检测对象：电磁继电器
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
检测项目：直流漏电流
检测对象：固体电解质钽固定电容器
电子设备用固定电容器第1部分：总规范
检测项目：漏电流
检测对象：固定电容器
军用EMI电源滤波器规范 GJB8707-2015
军用EMI电源滤波器规范 GJB8707-2015
检测项目：电流过载
检测对象：电源滤波器
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分：一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 32a；32b；32c
检测项目：接触电阻-毫伏法、接触电阻-规定试验电流法、接触电阻变化
检测对象：电子设备用机电元件