数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 9 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T10804-2000
半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T10804-2000
检测项目：输出高电平阈值电压、输出低电平阈值电压
检测对象：电平转换器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输入正向阈值电压、输入负向阈值电压
检测对象：CMOS电路
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：阈值电压、阈值电流
检测对象：时基电路
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第IV章
检测项目：栅-源阈值电压
检测对象：场效应晶体管
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：场效应晶体管阈值电压
检测对象：微电子器件
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：控制端阈值电压
检测对象：电压比较器