数据更新时间
2026-05-12
按“CMOS电路”筛选，展示 15 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入正向阈值电压、输入负向阈值电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流 等 14 项，点击展开全部
检测对象：CMOS电路
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.1、5.2、
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.1、5.2、
检测项目：输入电压
检测对象：CMOS电路