数据更新时间
2026-05-12
按“失调”筛选，展示 5 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》 SJ/T10738-1996
《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》 SJ/T10738-1996
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流<I>I</I><Sub>IO</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T10805-2018
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T10805-2018
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理》 SJ/T10818-1996
《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理》 SJ/T10818-1996
检测项目：失调误差<I>E</I><Sub>O</Sub>
检测对象：半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）