数据更新时间
2026-05-12
按“CMOS电路”筛选，展示 13 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T10741-2000
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T10741-2000
检测项目：输入钳位电压 <I>V</I><Sub>IK</Sub>、输入高电平电压<I> V</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电压 <I>V</I><Sub>IL</Sub>、输出高电平电压 <I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压<I> V</I><Sub>OL</Sub>、输入高电平电流 <I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流 <I>I</I><Sub>IL</Sub>、输出高电平电流 <I>I</I><Sub>OH</Sub> 等 13 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路CMOS电路