数据更新时间
2026-05-12
按“引出端”筛选，展示 4 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法
检测项目：引出端强度
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360A-1996 方法
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360A-1996 方法
检测项目：引出端强度
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
检测项目：引出端强度
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》GJB 548C-2021 方法
《微电子器件试验方法和程序》GJB 548C-2021 方法
检测项目：引出端强度
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）