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数据更新时间
2026-05-12
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命中 15 条相关能力，检测对象、检测项目、标准依据等明细已隐藏
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法 2009.1
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038、1039
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1021
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-2023 6.2.6、6.2.7、6.2.8
半 导 体 器 件 分 立 器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 第Ⅳ章 第2节 2
半导体分立器件和集成电路第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章第15条
半 导 体 器 件 分 立 器件第2部分:整流二极管 GB/T4023-2015 5.7.9
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法214
中国振华集团永光电子有限公司国营第八七三厂检测试验中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB548B-2005、GJB128A-97、GJB128A-1997、GB/T4587-2023、GB/T6571-1995、GB/T4586-1994 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 半导体分立器件及集成稳压器、二极管、晶体管、场效应晶体管 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。