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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 161 条能力记录。
按标准归类为 10 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：老炼试验、恒定加速度、外部目检、内部目检（单片）、键合强度（破坏性键合拉力试验）、稳态寿命、X射线照相、内部目检和结构检查 等 18 项，点击展开全部
检测对象：集成电路
半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 第二节
检测项目：电源电流、输入失调电压、偏置电压、输入失调电流、输入偏置电流、开环电压放大倍数、共模抑制比、电源电压抑制比 等 18 项，点击展开全部
检测对象：模拟集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：稳态寿命、恒定加速度、外部目检、内部目检（单片）、键合强度（破坏性键合拉力试验）、X射线照相、内部目检和结构检查、耐溶剂性 等 17 项，点击展开全部
检测对象：集成电路
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、交叉调整率、输入电流、输出电压温度系数 等 15 项，点击展开全部
检测对象：DC/DC变换器
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 Ⅳ3-
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、静态条件下的电源电流、（输入）阈值电压和滞后电压、输入嵌位电压、输出高阻态电流、动态条件下的总电源电流 等 13 项，点击展开全部
检测对象：数字集成电路
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率、电流调整率、电源纹波抑制比、输出电压温度系数、输出噪声电压、耗散电流、短路电流、基准电压 等 11 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路（稳压器）
军用CPU测试方法 GJB 7704-2012 方法
军用CPU测试方法 GJB 7704-2012 方法
检测项目：功能测试、电特性测试、字长测试、功耗测试、接口测试
检测对象：CPU电路
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分强加速稳态湿热试验(HAST)
检测项目：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测对象：集成电路
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 项目1101、项目1102
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 项目1101、项目1102
检测项目：外部目检
检测对象：集成电路
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027B-2021 项目1101、项目1102
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027B-2021 项目1101、项目1102
检测项目：外部目检
检测对象：集成电路