数据更新时间
2026-05-12
按“粗检漏”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路总规范 GJB597B-2012 附录B 表B.
半导体集成电路总规范 GJB597B-2012 附录B 表B.
检测项目：密封 粗检漏
检测对象：半导体集成电路
合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范 GJB7400-2011 表1A、1B、表
合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范 GJB7400-2011 表1A、1B、表
检测项目：密封 粗检漏
检测对象：半导体集成电路
混合集成电路通用规范 GJB 2438B-2017 表C.
混合集成电路通用规范 GJB 2438B-2017 表C.
检测项目：密封 粗检漏
检测对象：混合集成电路