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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 68 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 18 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇第2节
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、电源电流、动态条件下的总电源电流、静态条件下的电源电流
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
检测对象：半导体集成电路-存储器
检测对象：混合集成电路
检测对象：单片集成电路
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
检测项目：集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、发射极-基极击截止电流、正向电流传输比、反向控制极电流、反向漏电流
检测对象：双极型晶体管(包含绝缘栅双极晶体管及晶体管模块）
检测对象：闸流晶体管(包含所有类型的闸流晶体管及GTR、GTO、SCR和桥堆）)
检测对象：二极管（包含所有类型二极管及二极管模块）
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 第IV篇第2节
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、电源电流、静态电流、静态条件下的电源电流
检测对象：运算放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
检测对象：单片集成电路
《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》
检测项目：集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、发射极-基极击截止电流、正向电流传输比
检测对象：双极型晶体管(包含绝缘栅双极晶体管及晶体管模块）
GB/T 14030-92
《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项目：复位电流、触发电流、阈值电流、静态电源电流
检测对象：时基电路
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
检测项目：输出截止电流、电流传输比、反向电流
检测对象：光电耦合器
《半导体集成电路模拟开关测试方法》
检测项目：截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流
检测对象：模拟开关
《固体继电器总规范》 GJB 1515B-2017
《固体继电器总规范》 GJB 1515B-2017
检测项目：输入电流、输入接通电流、输出漏电流
检测对象：固体继电器
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997 方法
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997 方法
检测项目：输出电流、电流调整率、输入电流
检测对象：混合集成电路DC/DC模块
检测对象：混合集成电路
《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》 第IV章
检测项目：栅极截止电流或栅极漏泄电流、漏极电流
检测对象：场效应晶体管（包含所有类型场效应晶体管及场效应晶体管模块）
《半导体集成电路 电压比较器测试方法》 SJ/T 10805-2018
《半导体集成电路 电压比较器测试方法》 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流
检测对象：电压比较器
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ 20961-2006
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ 20961-2006
检测项目：数字输入高电平电流、数字输入低电平电流
检测对象：线性数字/模拟转换器（DAC）
检测对象：线性数字/模拟转换器（ADC）
《半导体集成电路 电压比较器测试方法》 SJ/T 10805-2018 5.15、
《半导体集成电路 电压比较器测试方法》 SJ/T 10805-2018 5.15、
检测项目：输出电流
检测对象：电压比较器
《有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 733B-2011
《有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 733B-2011
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容
《非固体电解质钽电容器总规范》 GJB 1312A-2001
《非固体电解质钽电容器总规范》 GJB 1312A-2001
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2015
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2015
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容
《半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》 第IV章第1节
检测项目：反向漏电流
检测对象：二极管（包含所有类型二极管及二极管模块）
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法
检测项目：反向漏电流
检测对象：二极管（包含所有类型二极管及二极管模块）