数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T17574-1998”筛选，展示 45 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 方法
检测项目：输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电压、功能检验、输入钳位电压、输入低电平电压、输入高电平电压 等 24 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
检测对象：半导体集成电路-存储器
检测对象：混合集成电路
检测对象：单片集成电路