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数据更新时间
2026-05-12
按“芯片”筛选，展示 11 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC-Q104 Rev:2017
基于汽车应用的多芯片组件失效机理的应力测试认证要求
检测项目：有偏置温湿度或有偏置高加速应力测试、高压蒸煮或无偏置高加速应力或无偏置温湿度测试、温度循环、功率温度循环、高温贮存寿命、高温工作寿命、早期寿命失效率、低温贮存寿命 等 11 项，点击展开全部
检测对象：多芯片组件