数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 GB/T 14849.4-2014
非本征半导体材料导电类型测试方法 GB/T 1550-2018
硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 GB/T 1551-2021
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法 GB/T 1553-2023
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 GB/T 24581-2022
光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法 GB/T 29849-2013
光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法 GB/T 31854-2015
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 GB/T35306-2023
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代表标准包括 GB/T 14849.4-2014、GB/T 1550-2018、GB/T 1551-2021、GB/T 1553-2023、GB/T 24581-2022、GB/T 29849-2013 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 多晶硅、工业硅 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。